[发明专利]显示面板检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，特别涉及一种显示面板检测方法。

背景技术

在TFT-LCD制造过程中，显示不良的产生是不可以避免的。液晶显示不良主要分二大类别：非电学性不良和电学性不良。非电学性不良产生的原因较多，与材料和工艺都有关系，具体而言，导致非电学性不良的材料包括液晶、金属电极层（栅极、源极及漏极）、绝缘层、取向层和封框胶等等。在制作以上材料层的工艺中任何步骤出现缺陷都能够产生非电学性不良，如：水平黑线，白线，黑点等，电学性不良主要产生原因是阵列工艺缺陷，如亮线，亮点，信号线断路等。

为了快速准确的检查到产品的不良反映生产情况，在液晶盒（Cell）工艺生产线中设置液晶盒检测工位。目前的液晶盒工程检测置于Cell切割工艺以后，使用Cell检测设备中的探针单元对液晶盒的切割（dummy）区（Dummy区就是切割时需要废弃的部分。也就是在面板上对后续模组无用的空白空间）的信号线（栅线、数据线等）引线（如：短路条）进行探针测试。探针测试包括对液晶盒的数据线和栅极线的打开测试和颜色测试，仅针对单个液晶盒。使用探针单元对液晶盒的每个信号输入端口输入显示信号从而检测不良。但是在液晶盒未切割前无法实现检测，如图1中虚线框所示的dummy区，因为在切割前Cell检测设备中的探针单元无法在每个待切割的液晶盒1的dummy区进行探针检测，即探针无法接触到信号线引线。

现有的液晶盒检测需要CF基板和TFT基板对盒完成后，液晶基板切割成形成单个液晶盒后才可以检测，这样不良信息反馈滞后，造成后续的生产成本浪费，而且传统的切割后检测采用的接触式的点灯设备投资费用极高。

发明内容

（一）所要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何在液晶盒未切割的情况下实现显示面板检测。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种显示面板检测方法，通过连接到发射机的无线信号发射电极分别向预先设置在所述显示面板的切割区的与栅线连接的栅线无线感应电极及与数据线连接的数据线无线感应电极发射无线信号，以分别产生栅线检测信号和数据线检测信号，从而实现对显示面板的检测；所述栅线无线感应电极和数据线无线感应电极分别在制作显示面板的阵列基板的栅线和数据线的工艺过程中形成在所述阵列基板上的所述切割区。

其中，通过无线信号发射电极分别向栅线无线感应电极和数据线无线感应电极发射频率不同的无线信号。

其中，所述栅线无线感应电极包括：第一栅线无线感应子电极和第二栅线无线感应子电极，所述第一栅线无线感应子电极连接奇数行栅线，第二栅线无线感应子电极连接偶数行栅线。

其中，所述数据线无线感应电极包括N个数据线无线感应子电极，相同颜色亚像素的数据线连接到同一个所述数据线无线感应子电极，不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线无线感应子电极，所述N为亚像素颜色总数。

其中，通过无线信号发射电极分别向不同的数据线无线感应子电极发射频率和强度均不同的无线信号。

其中，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的彩膜基板面向观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。

其中，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的阵列基板背离观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。

其中，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第二透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。

其中，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第一透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。

其中，在发射无线信号之前还包括：将透明板置于所述显示面板的观看侧，在所述透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。

（三）有益效果