[发明专利]一种太阳能电池的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310495934.2 申请日: 2013-10-21
公开(公告)号: CN103606590A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 丛国芳 申请(专利权)人: 溧阳市东大技术转移中心有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲
地址: 213300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能电池 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种太阳能电池的制造方法依次包括如下步骤:

(1)提供衬底,在衬底上形成第一过渡金属层;

(2)对第一过渡金属层的上表面进行粗化;

(3)在第一过渡金属层的上表面上溅镀金属材料层,然后对该金属材料层的上表面进行粗化,从而形成粗化金属层;

(4)在粗化金属层的上表面形成p型半导体层,然后对p型半导体层的上表面进行粗化处理;

(5)在p型半导体层的上表面上形成n型半导体层,然后对n型半导体层的上表面进行粗化处理;

(6)在n型半导体层的上表面上依次形成第二过渡金属层、ZnO层以及透明导电层。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

形成第一过渡金属层、粗化金属层、第二过渡金属层的工艺为金属溅镀工艺或者金属电镀工艺;对表面进行粗化的工艺为喷砂工艺、化学药液刻蚀工艺或者等离子体干法刻蚀工艺。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:

第一粗化面的粗糙度介于1微米至200微米之间;第二粗化面的粗糙度介于0.05微米至120微米之间,第三粗化面的粗糙度介于0.05微米至120微米之间,第四粗化面的粗糙度介于0.1微米至120微米之间。

n型半导体层的厚度远小于p型半导体层的厚度,例如,n型半导体层厚度为p型半导体层厚度的1/12至1/8,优选为1/10或1/9。

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