[发明专利]辐射形状滤波器的选择

权利要求书

1.一种用于选择辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）的方法，所述辐射形状滤波器改变成像系统（10）的X射线源（100,100_a,100_b）的X射线辐射（R,R'）的强度的空间分布和/或光谱，其中：

-采集检查对象（O）的解剖测量数据（T,B），从所述解剖测量数据应当在下一个步骤中借助成像系统（10）进行成像，

-基于所采集的检查对象（O）的解剖测量数据（T,B）自动地进行辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）的选择。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，自动地确定检查对象（O）的至少一个解剖参数或参数值，在其基础上可以选择辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'），其中优选自动地确定所有为自动的选择而考虑的解剖参数。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，自动地基于检查对象的尺寸和/或检查区域（U）的空间位置，进行辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）的选择。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，自动地基于X射线辐射（R,R'）穿过检查对象（O）的预计衰减进行辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）的选择。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，自动确定X射线辐射（R,R'）的预计衰减。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述解剖测量数据（T,B）的确定包括检查对象（O）的拍摄。

7.根据上述权利要求6所述的方法，其中，检查对象的拍摄借助照相机（300）进行，其基于在可见光波长范围内的和/或在IR范围内的光产生图像数据（B）和/或其中所述拍摄包括定位片（T）。

8.一种用于控制具有一个或多个辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）的辐射形状滤波器装置（220）的方法，其中，在使用按照权利要求1至7中任一项所述的方法的条件下借助选择单元（50）选择辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）并且自动将选择的辐射形状滤波器（200_a,200_b,200_c,200_d,200_e,200_f,200_a',200_b'）引入到X射线源（100,100a,100_b）的射线路程中。