[发明专利]一种MWT电池的制作方法无效

专利信息
申请号: 201310489232.3 申请日: 2013-10-18
公开(公告)号: CN103618021A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 杨金波;陈康平;金浩;黄琳 申请(专利权)人: 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 吴关炳
地址: 314416 浙江省嘉*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 mwt 电池 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电池的制作方法,具体涉及一种MWT电池的制作方法。

背景技术

MWT电池是一种新型太阳能电池结构,它的特点是电池的发射区和基区电极均位于电池背面的一种电池。这种电池的优点是:正面遮光面积的减小或消除,提高了电池的受光面积,提高电池的效率;组件封装无需进行正面焊接,组件封装密度提高,且更美观。但是如何进一步提高MWT电池的种种优点,使其成为现阶段光伏行业研究的一个重点方向。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种MWT电池的制作方法,更进一步的提高了MWT电池的效率。

本发明解决技术问题所采用的技术方案是:一种MWT电池的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)制绒:通过酸制绒,去除硅片表面的损伤层,控制其形貌,降低反射率;

(2)扩散:扩散三氯氧磷形成PN结,方阻110ohm/sq;

(3)镀减反膜:在硅片正面镀一层氮化硅减反膜,其厚度为70-90nm;

(4)背钝化:电池背面采用双层钝化膜钝化,所述第一层钝化膜带负电性,第二层钝化膜带正电性,所述第一层钝化膜的厚度为5-30nm,第二层钝化膜的厚度为50-200nm;

(5)激光刻蚀:采用激光在硅片上穿通孔,在钝化膜上刻电极隔离槽、铝浆和硅片的接触槽, 所述隔离槽宽5-10μm,深20-80μm;所述接触槽宽20-100μm;所述通孔的直径为100-300μm;所述隔离槽把通孔包围,隔离槽边缘与背面正电极的边缘距离大于100μm;

(6)清洗:激光刻蚀步骤后,在80℃,10%-20%浓度的氢氧化钠溶液浸泡5-10分钟去除激光过程中的损伤层;

(7)氧化:通过CVD在通孔的孔壁,以及隔离槽的底部和侧壁分别氧化一层二氧化硅层,所述二氧化硅层厚度为5-20nm;

(8)填充隔离槽:在隔离槽中填充绝缘材料,并烘干;

(9)印刷:进行背面正电极的堵孔浆料印刷、背场的铝浆印刷和正面电极印刷,堵孔浆料印刷和背场铝浆印刷时不能接触隔离槽,且背场铝浆印刷与隔离槽的距离大于100μm;正面电极印刷时和通孔浆料充分接触,以便把收集到的电流送到背面;

(10)高温烧结:在200℃下烘干后,通过900℃的高温过程形成电极和硅片的良好欧姆接触。

作为一种优选,所述步骤(8)填充隔离槽中的绝缘材料为聚硅氮烷。

本发明的有益效果是: 电池的通孔孔壁上采用二氧化硅膜保护,改善电极与硅片接触的界面态;电池背面正电极和背场之间刻隔离槽,且在隔离槽内填充绝缘材料,减小电池片的漏电;电池背面采用双层钝化膜, 提高了电池片的开压。

附图说明

图1为本发明实施例MWT电池的剖视结构示意图。

图2为本发明实施例MWT电池的背面结构示意图。

下面结合附图对本发明做进一步说明。

具体实施方式

结合附图1、2所示,一种MWT电池的制作方法,包括如下步骤:

(1)制绒:通过酸制绒,去除硅片表面的损伤层,控制其形貌,降低反射率;

(2)扩散:扩散三氯氧磷形成PN结,方阻110ohm/sq;

(3)镀减反膜:在硅片正面镀一层氮化硅减反膜1,其厚度为75nm;

(4)背钝化:电池背面采用双层钝化膜钝化,所述第一层钝化膜2带负电性,第二层钝化膜3带正电性,所述第一层钝化膜2的厚度为5nm,第二层钝化膜3的厚度为60nm;

(5)激光刻蚀:采用激光在硅片上穿通孔5,在钝化膜上刻电极隔离槽7、铝浆和硅片的接触槽10, 所述隔离槽宽5μm,深25μm; 所述接触槽宽20μm;所述通孔的直径为200μm;所述隔离槽7把通孔包围,隔离槽边缘与背面正电极的边缘距离为110μm;

(6)清洗:激光刻蚀步骤后,在80℃,16%浓度的氢氧化钠溶液浸泡8分钟去除激光过程中的损伤层;

(7)氧化:通过CVD在通孔5的孔壁6,以及隔离槽7的底部和侧壁分别氧化一层二氧化硅层,所述二氧化硅层厚度为10nm;

(8)填充隔离槽:在隔离槽7中填充绝缘材料聚硅氮烷8,并烘干;

(9)印刷:进行背面正电极9的堵孔浆料印刷、背场4的铝浆印刷和正面电极印刷,堵孔浆料印刷和背场铝浆印刷时不能接触隔离槽,且背场铝浆印刷与隔离槽的距离为110μm;正面电极印刷时和通孔浆料充分接触,以便把收集到的电流送到背面;

(10)高温烧结:在200℃下烘干后,通过900℃的高温过程形成电极和硅片的良好欧姆接触。

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