[发明专利]液晶显示器及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种液晶显示器及其检测方法。背景技术

薄膜场效应晶体管液晶显示器（TFT-LCD，Thin Film Transistor Liquid Crystal Display）是有源矩阵液晶显示器的典型代表，由于其具有性能优良、大规模生产特性好、自动化程度高等优点，被广泛应用于笔记本电脑、摄像机与数字照相机监视器等领域。

为了提高产品品质，在TFT-LCD生产过程中，需要及时检查出产品出现的各种不良现象。Mura（显示亮度不均）是TFT-LCD检查过程中常见的一类不良现象，引起Mura的原因有两种：生产TFT-LCD过程中的阵列工艺引起的Mura和成盒工艺引起的Mura。根据引起Mura现象的不同原因，可以对出现Mura的TFT-LCD进行不同的处理。但是，从Mura的现象上很难区分是哪种原因引起的，因此需要对Mura的来源进行检测。

申请号为201010223560.5、发明名称为“TFT阵列基板及其制造方法与检测方法”的中国专利申请公开了一种检测Mura来源的方法，然而，该申请提供的检测方法需要打孔焊接，检测时间较长。

发明内容

本发明解决的是检测液晶显示器Mura来源时耗时较长的问题。

为解决上述问题，本发明提供一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。

基于上述液晶显示器，本发明技术方案还提供了一种液晶显示器的检测方法，所述检测方法包括：施加控制信号至所述开关单元；所述施加控制信号至所述开关单元之后，施加数据信号至所述N条数据线；所述施加数据信号至所述N条数据线之后，根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；所述判断所述液晶显示器Mura来源之后，停止施加所述控制信号至所述开关单元。

与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下至少一个优点：

本发明提供的液晶显示器包括开关单元，所述开关单元连接驱动电源线和TFT基板上的所有扫描线。检测液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元接收由控制信号产生单元提供的控制信号，所述控制信号控制所述开关单元导通，所有的扫描线同时由所述驱动电源线上的电压驱动。由于同时驱动所有的扫描线，消除了TFT特性引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起，反之则是由阵列工艺引起。

检测所述液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元只需要接收由所述控制信号产生单元提供的控制信号，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。

进一步，现有技术中检测液晶显示器的Mura来源时，需要检测输入输出电压，因而需要增加检测设备，而本发明检测所述液晶显示器的Mura来源时，并不需要进行测量，因此，不需要额外的检测设备，降低了检测成本。

本发明的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述液晶显示器还包括电熔丝，所述多个晶体管的栅极通过所述电熔丝接收所述控制信号。在判断出液晶显示器的Mura来源后，所述控制信号产生单元施加高电压熔断所述电熔丝，使所述开关单元失效，有效地确保不影响液晶显示器的其他功能。

本发明的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述TFT基板还包括玻璃基板，所述多个晶体管的栅极连接所述玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘。在判断出液晶显示器的Mura来源后，在驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段，所述多个晶体管的栅极连接所述柔性电路板的接地焊盘，增加了静电放电的泄放途径，增强了液晶显示器抗静电放电能力。

附图说明

图1是现有的液晶显示器的结构示意图；

图2是本发明实施例1的液晶显示器的结构示意图；

图3是本发明实施例2的液晶显示器的结构示意图；

图4是本发明实施例3的液晶显示器的结构示意图；

图5是本发明实施例4的液晶显示器的结构示意图；

图6是本发明实施例5的液晶显示器的结构示意图；

图7是本发明实施例6的液晶显示器的结构示意图；

图8是本发明实施方式的液晶显示器的检测方法的流程示意图。

具体实施方式