[发明专利]一种移动终端的存储器坏块处理方法及移动终端

说明书

技术领域

本发明涉及移动终端领域，尤其涉及的是一种移动终端的存储器坏块处理方法及移动终端。

背景技术

移动终端的存储器包括掉电不易失存储器和掉电易失存储器，顾名思义，掉电易不失存储器在断电后依然能保存数据，而掉电易失存储器在断电后数据将消失。在移动终端中，掉电不易失存储器主要包括FLASH（闪存）、EEPROM（电可擦可编程只读存储器）等，掉电易失存储器主要包括DRAM（动态随机存取存储器）、SDRAM（同步动态随机存储器）等。

随着移动终端功能越来越强大，移动终端已经成为人们日常生活中不可或缺的一部分，而存储器作为移动终端最重要的部件之一，其承载着移动终端使用的方方面面。在移动终端日常使用中，人们经常会碰到一些功能打开失败的情况，这很多时候都是由于存储器有坏块造成的。但是现有技术中，不容易区分是掉电不易失存储器上有坏块还是掉电易失存储器上有坏块，无法及时屏蔽，经常会容易出现文件存储打开失败的情况，给用户造成麻烦。 

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种移动终端的存储器坏块处理方法及移动终端，其很容易区分出坏块是在掉电不易失存储器还是掉电易失存储器上，可及时屏蔽坏块，不容易出现文件存储打开失败的情况，为用户提供了方便。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种移动终端的存储器坏块处理方法，其中，包括：

A，当某一个应用程序被打开时，获取该应用在掉电不易失存储器中的地址及大小，并拷贝该应用程序至掉电易失存储器中运行，同时记录该应用程序在掉电易失存储器中的地址及大小；

B，当该应用程序打开失败，则说明掉电不易失存储器或掉电易失存储器中存在坏块；并再将该应用程序拷贝到掉电易失存储器中另外地址中运行，如果该应用打开成功则说明掉电易失存储器中存在坏块，如果该应用打开失败则说明掉电不易失存储器中存在坏块；

C，根据上述步骤B的结论，判断掉电不易失存储器或掉电易失存储器中的坏块的地址并记录下来。

所述移动终端的存储器坏块处理方法，其中，所述掉电不易失存储器包括FLASH、EEPROM，所述掉电易失存储器包括DRAM、SDRAM。

所述移动终端的存储器坏块处理方法，其中，所述步骤A具体包括：

A1、当在移动终端中选择打开一个应用时，移动终端中央处理器在FLASH中获取该应用所在起始地址FLASHAddr及大小FLASHLen；

A2、将该应用程序从掉电不易失存储器FLASH中拷贝到掉电易失存储器RAM中运行，并记录在RAM中运行该应用的起始地址RAMAddr及大小RAMLen。

所述移动终端的存储器坏块处理方法，其中，所述步骤B具体包括：

B1、如果应用程序打开失败，则认为是FLASH中存放该应用的位置有坏块或RAM中运行该用应用的位置有坏块；

B2、中央处理器再次从FLASH 中将该应用拷贝到RAM另外地址中运行；

B3、如果应用程序成功打开则判定RAM中存在坏块，如果应用程序仍然打开失败则判定FLASH中存在坏块。

所述移动终端的存储器坏块处理方法，其中，所述步骤C具体包括：

C1、若检测到FLASH中有坏块，则依次对FLASHAddr开始大小为FLASHLen的区域进行全部写0xFF操作，然后依次读取，如果哪个位读出来不是0xFF则说明该地址为坏块；

C2、再依次对FLASHAddr开始大小为FLASHLen的区域进行全部写0x00操作，然后依次读取，如果哪个位读出来不是0x00则说明该地址为坏块；

C3、将上述电不易失存储器或掉电易失存储器中的坏块的地址记录并保存。

一种移动终端，其中，包括：

存储器读写模块，用于当某一个应用程序被打开时，获取该应用在掉电不易失存储器中的地址及大小，并拷贝该应用程序至掉电易失存储器中运行，同时记录该应用程序在掉电易失存储器中的地址及大小；

坏块判断处理模块，用于当该应用程序打开失败，则说明掉电不易失存储器或掉电易失存储器中存在坏块；并再将该应用程序拷贝到掉电易失存储器中另外地址中运行，如果该应用打开成功则说明掉电易失存储器中存在坏块，如果该应用打开失败则说明掉电不易失存储器中存在坏块；

坏块记录模块，用于判断掉电不易失存储器或掉电易失存储器中的坏块的地址并记录下来。