[发明专利]绝对式位置测量装置

说明书

本发明涉及一种绝对式位置测量装置，其包括：第一结构组件(20.1)，其带有实物量具(22)(在其上布置有至少一个编码道(23))和扫描单元(24)(利用其可通过在测量方向(X)上扫描至少一个编码道(23)产生位置信号(S)，由该位置信号可生成绝对的、数字的位置值(P))；以及第二结构组件(20.2)，其带有至少一个外围设备单元(30,31,32,33,34)，该外围设备单元构造用于实施位置测量装置(20)的附加功能或辅助功能。第一结构组件(20.1)和第二结构组件(20.2)借助于多个电的线路(21)彼此连接以便传输电信号。根据本发明，第一结构组件(20.1)仅包括适合于使用在机器的辐射区域(A)中的构件(22,25,26,41)。

技术领域

本发明涉及一种根据权利要求1的绝对式位置测量装置。这种绝对式位置测量装置适合于使用在在其中经受高能的、离子的辐射的设备或机器中。

背景技术

在不同的技术的领域中需要位置测量装置以便在设备和机器中确定可运动的构件的位置(长度和/或角度)。这种位置测量装置基于其功能原理划分成两类：一类为增量式位置测量装置，在其中，位置确定基于增量分度(Inkrementalteilung)的分度周期(Teilingsperiode)的计数；另一类为绝对式位置测量装置，在其中，位置通过扫描和评估绝对分度(Absolutteilung)来获得。

增量式位置测量装置相对于绝对式位置测量装置具有简单的、耐用的结构，但具有的缺点是就在接通之后不存在位置信息，并且首先必须通过所谓的参考运行(Referenzfahrt)驶过参考标记，以便可推断出绝对位置。因此在此期间在许多技术的领域中优选地使用绝对式位置测量装置，在其中在任何时候(即使就在接通之后)都提供绝对的位置值。例如在文件EP 660 209 A1中说明了一种绝对式位置测量装置。

对于这种技术领域，即在其中使用绝对式位置测量装置甚至到现在还是有问题的，其为经受离子的、高能的辐射的设备或机器，或设备或机器的应用领域需要使用这种辐射。在此尤其提到医疗技术，在其中有目的地使用离子的、高能的辐射以便治疗疾病或滞延疾病加重。在此主要使用伽马辐射、伦琴辐射或粒子辐射(质子、中子、电子等)。

已经显示出增量式位置测量装置(将其暴露于这种辐射)由于其简单的结构而表现得相当坚固。与此相比，如果绝对式位置测量装置暴露于离子的、高能的辐射，则绝对式位置测量装置(其为了确定绝对的位置值而需要更复杂的结构)倾向于失灵。

尽管如此，如果将绝对式位置测量装置使用在这种环境中，例如使用在医疗技术的器具中以用于肿瘤组织的放疗，迄今提供有两种解决方法，一种为屏蔽绝对式位置测量装置不受有害的辐射，另一种为建造由所谓的有辐射硬度(strahlungsharte)的构件(即专门针对该应用领域开发的构件)构成的位置测量装置。

在实践中这两种方式并非令人满意。为了获得充分的屏蔽效果，需要有厘米级的厚度的铅外罩，其主要由于其重量但还由于其很大的空间需求而不是所希望的。相比于标准构件，有辐射硬度的构件通常过分昂贵并且仅可使用在很大的壳体中。因此，可由有辐射硬度的构件建造的绝对式位置测量装置将导致很大的构型和非常高的价格。此外，不是所有的所需要的或所希望的构件可以有辐射硬度的实施方式得到。

发明内容

因此本发明的目的在于提供一种带有简单的结构的绝对式位置测量装置，其适合于使用在这样的环境中，即，在其中该绝对式位置测量装置暴露于离子辐射。

该目的通过根据权利要求1的绝对式位置测量装置来实现。这种绝对式位置测量装置的有利的细节从从属于权利要求1的权利要求中得出。

现在提出了一种绝对式位置测量装置，包括