[发明专利]一种矢量线型快速擦除方法有效
| 申请号: | 201310478592.3 | 申请日: | 2013-10-14 |
| 公开(公告)号: | CN103578553A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
| 发明(设计)人: | 王进 | 申请(专利权)人: | 江苏敏行信息技术有限公司 |
| 主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10 |
| 代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 黄明哲 |
| 地址: | 210037 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 矢量 线型 快速 擦除 方法 | ||
技术领域
本发明属于图像处理技术领域,涉及矢量线型的快速擦除,为一种矢量线型快速擦除方法。
背景技术
目前在各种电子显示设备,如电脑、平板等操作环境下,对于文字和线的擦除形式都是以像素擦除方法为主,这种擦除方法效率低下,擦除一个文字或线需要反复进行擦除动作,逐步擦除对应的像素才可以完成,擦除速度慢,在擦除内容较多的情况下,还容易产生遗漏。
发明内容
本发明要解决的问题是:现有电容屏幕在擦除文字或线时,需要对每个像素都进行擦除操作,效率低下。
本发明的技术方案为:一种矢量线型快速擦除方法,对于屏幕上的矢量线型,根据擦除路径,对与擦除路径相交的矢量线型进行一次性擦除,包括以下步骤:
1)依次遍历屏幕中所有矢量线型,对于其中的任意一条矢量线型,放大后都呈现为折线段,将所述折线段转折的像素点作为特征点,对两两特征点之间等间距划分,划分点即为关键点,特征点同时也作为关键点;
2)进行擦除动作:使擦除路径与待擦除的线型相交至少一次;
3)完成擦除动作后,对待擦除线型上的关键点的有效性进行判断,关键点与包围关键点的像素点作为一个判断点,对判断点的每个像素的alpha值进行判断,如果判断点中有任意一个像素的alpha值不为0,则该判断点对应的关键点有效,反之,该关键点无效;
4)判断待擦除线型是否有效:如果待擦除线型上的有任意一个关键点无效,则该待擦除线型无效,完整删除该待擦除线型的显示,完成对该擦除线型的一次性擦除。
对屏幕中矢量线型的遍历是自动进行的,对矢量线型的关键点数据进行保存,每当屏幕中矢量线型发生变化时,更新矢量线型及其关键点数据。
步骤1)中,等间距划分时的间距值为4-6个像素。
对于电容屏幕,以手指或电容笔的移动路径作为擦除路径。
步骤3)中,关键点为一个像素点,判断点为关键点及其周围8和像素点。
本发明针对矢量线型,采用对于线交错点识别的方法来实现文字和线的快速擦除,只需一条擦除路径即可一次性擦除所有涉及到的线型,相比现有技术的像素逐一擦除方法,可以快速、准确的擦除文字和线类型,特别是在一次性需要清除大量线型的情况下,用户只需简单画一条线擦除路径,即可清除所有划过的线型,且不会有像素遗留。
附图说明
图1为本发明方法的流程图。
图2为本发明实施例中对线型进行擦除动作后的显示示意图。
图3为本发明实施例中对交叉线线型进行擦除动作后的显示示意图。
图4为本发明实施例中待擦除线型的线型放大图。
图5为本发明实施例中经过擦除动作的线型放大图。
图6为本发明实施例中待擦除线型的特征点的示意图。
图7为本发明实施例中待擦除线型的关键点的示意图。
图8为本发明实施例中待擦除线型的判断点的示意图。
具体实施方式
本发明根据擦除路径,对显示的线型进行擦除,包括以下步骤,如图1:
1)依次遍历屏幕中所有矢量线型,对于其中的任意一条矢量线型,放大后都呈现为折线段,将所述折线段转折的像素点作为特征点,对两两特征点之间等间距划分,划分点即为关键点,特征点同时也作为关键点;
2)进行擦除动作:使擦除路径与待擦除的线型相交至少一次;
3)完成擦除动作后,对待擦除线型上的关键点的有效性进行判断,关键点与包围关键点的像素点作为一个判断点,对判断点的每个像素的alpha值进行判断,如果判断点中有任意一个像素的alpha值不为0,则该判断点对应的关键点有效,反之,该关键点无效;
4)判断待擦除线型是否有效:如果待擦除线型上的有任意一个关键点无效,则该待擦除线型无效,完整删除该待擦除线型的显示,完成对该擦除线型的一次性擦除。
本发明在计算机或平板电脑上进行,对屏幕中矢量线型的遍历是自动进行的,对矢量线型的关键点数据进行保存,每当屏幕中矢量线型发生变化时,更新矢量线型及其关键点数据。
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