[发明专利]监视正比计数器的增益的方法与装置

说明书

技术领域

本公开一般涉及正比计数器，并且更特别地涉及用于监视正比计数器的增益的处理。

背景技术

高能与电离辐射的探测器被用于各种应用。这一类的探测器例如包括电离室，正比计数器，盖革一弥勒计数器（Geiger-Mueller counter），以及闪烁计数器，并且可以用于探测高能量光子，诸如X射线或γ-射线。 同样地，通过使用位于γ-射线探测器的对面或附近的γ-射线源，γ-射线被用于测量容器中流体的密度与液位。在被测材料是危险的、非常热的情况下、或者在以其它方式直接接触测量是不可能的情况下，γ-射线密度以及液位测量是有用的。此外，所述源以及探测器被安装在容器外，并且无需对该容器进行改造。由源发射的γ-射线可以被容器以及容器中的材料吸收或衰减。到达探测器的γ辐射的强度（strength）可以用于根据所述源的强度（intensity）来指示容器中流体的密度或者液位。

当测量流体液位时，例如γ-射线发射器和/或探测器可以被放置在容器旁或者容器上，其中信号（或者额定低信号）的存在或不存在可以指示在源和探测器附近的流体的存在或不存在。关于流体密度，在γ-射线源和探测器附近的流体可以吸收或衰减由该源发射的γ-射线，比方说，高的辐射计数可以指示低的流体密度，而低的计数可以指示高的流体密度。

关于从源发射的到达探测器的γ-射线的量的主要变量是包含在容器内的流体。由源发射的一定百分比的γ-射线被流体吸收或衰减并且因此不能到达探测器。因此，来自探测器的光电倍增管的输出信号的计数率可以与射线必须通过其到达探测器的流体的密度以及γ射线源的强度相关。

然而，影响高能与电离辐射探测器的可靠性的各种因素已经为人们所知。例如，可能期望如上所述的在工业环境中工作的探测器在光谱内的温度下在长时间段内工作，诸如数年左右。因此，特别是在这些探测器的各种应用中当条件只会变得更加极端时，存在对于优化探测器的使用的需求。

发明内容

通常，在一方面，本公开涉及一种用于监视正比计数器的增益的方法。这种方法包括生成正比计数器的脉冲高度谱，定义脉冲高度谱中的第一窗口以及第二窗口，对脉冲高度谱的第一窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第一窗口计数，对脉冲高度谱的第二窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第二窗口计数，以及确定第一窗口计数与第二窗口计数之间的差值。

通常，另一方面，本公开涉及一种用于监视正比计数器的增益的增益监视系统。该系统包括存储器，在工作时连接到该存储器的处理器，存储器中存储的计算机可读指令以使处理器对正比计数器的增益进行监视。所述指令包括：生成正比计数器的脉冲高度谱，定义脉冲高度谱中的第一窗口与第二窗口，对脉冲高度谱的第一窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第一窗口计数，对脉冲高度谱的第二窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第二窗口计数，以及确定第一窗口计数与第二窗口计数之间的差值。

通常，再一方面，本公开涉及一种用于监视正比计数器的增益的方法。这种方法包括生成正比计数器的脉冲高度谱，定义脉冲高度谱中的第一窗口以及第二窗口，对脉冲高度谱的第一窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第一窗口计数，对脉冲高度谱的第二窗口中由正比计数器输出的电脉冲进行计数，从而定义第二窗口计数，对由正比计数器输出的超过所述脉冲高度谱的预定计数阈值的电脉冲进行计数，确定所述第一窗口计数与第二窗口计数之间的差值，根据所确定的差值来校正定义所述脉冲高度谱的第一窗口和第二窗口的阈值，以及根据所确定的差值校正脉冲高度谱的计数阈值，其中所述脉冲高度谱的计数阈值的校正是定义脉冲高度谱的第一窗口和第二窗口的阈值的校正的一部分。

本公开的其他方面和优势将从以下描述以及附加的权利要求而显而易见。

附图说明

图1示出了根据本公开的一个或多个实施例的正比计数器的示意图。

图2示出了根据本公开的一个或多个实施例的正比计数器的示意图。

图3 示出了使用根据本公开的一个或多个实施例的正比计数器、从不同材料散射回的¹³⁷Cs的脉冲高度谱。

图4示出了使用根据本公开的一个或多个实施例的正比计数器的参考脉冲高度谱。

图5示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视正比计数器的增益的电路的示意图。