[发明专利]一种铸造单晶硅锭的方法与装置有效

专利信息
申请号: 201310471418.6 申请日: 2013-10-10
公开(公告)号: CN103526278A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 金应荣;贺毅;陈宝军;何知宇;张洁;李翔;龚鹏;苏敏;金玉山 申请(专利权)人: 西华大学
主分类号: C30B11/00 分类号: C30B11/00;C30B29/06
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴开磊
地址: 610039 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 铸造 单晶硅 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:包括以下步骤,

(1)设置初始晶核:在坩埚底部设置初始晶核;

(2)诱导生长:让初始晶核生长并覆盖坩埚底部中心;

(3)熔化初始晶核:将初始晶核熔化,并保持坩埚底部中心处的晶核不熔化;

(4)籽晶生长:让坩埚底部中心处的没有熔化的晶核向四周生长,逐渐铺满坩埚底部;

(5)定向生长:让铺满坩埚底部的籽晶由下向上生长,得到单晶硅锭。

2.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为多晶,所述多晶设置于偏离所述坩埚底部中心处。

3.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为单晶,所述单晶设置于偏离所述坩埚底部中心处。

4.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为单晶,所述单晶设置于坩埚底部中心处。

5.根据权利要求2所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:步骤(2)时,让所述多晶向偏离坩埚中心的方向生长后再向所述坩埚中心生长,并覆盖坩埚底部中心。

6.根据权利要求3所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:步骤(2)时,让单晶向坩埚中心生长,并覆盖坩埚底部中心。

7.一种权利要求1-6任意一项所述的铸造单晶硅锭的方法所使用的装置,其特征在于:包括,坩埚、可控导热底座、真空系统、冷却系统、加热系统、温度控制系统和运动控制系统;

其中,所述可控导热底座包括支撑所述坩埚的隔热支座和导热装置,所述导热装置的一端为低温端,所述低温端与所述冷却系统连接,所述导热装置的另一端与所述坩埚底部接触或不接触;

所述温度控制系统与所述加热系统和所述冷却系统连接;所述运动控制系统含有至少两套运动机构,分别与所述可控导热底座、所述导热装置连接。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于:所述导热装置为导热棒或热管。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于:所述导热棒或热管的柱状表面涂覆有隔热涂层。

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