[发明专利]一种铸造单晶硅锭的方法与装置有效
申请号: | 201310471418.6 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN103526278A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 金应荣;贺毅;陈宝军;何知宇;张洁;李翔;龚鹏;苏敏;金玉山 | 申请(专利权)人: | 西华大学 |
主分类号: | C30B11/00 | 分类号: | C30B11/00;C30B29/06 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴开磊 |
地址: | 610039 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铸造 单晶硅 方法 装置 | ||
1.一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:包括以下步骤,
(1)设置初始晶核:在坩埚底部设置初始晶核;
(2)诱导生长:让初始晶核生长并覆盖坩埚底部中心;
(3)熔化初始晶核:将初始晶核熔化,并保持坩埚底部中心处的晶核不熔化;
(4)籽晶生长:让坩埚底部中心处的没有熔化的晶核向四周生长,逐渐铺满坩埚底部;
(5)定向生长:让铺满坩埚底部的籽晶由下向上生长,得到单晶硅锭。
2.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为多晶,所述多晶设置于偏离所述坩埚底部中心处。
3.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为单晶,所述单晶设置于偏离所述坩埚底部中心处。
4.根据权利要求1所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:所述初始晶核为单晶,所述单晶设置于坩埚底部中心处。
5.根据权利要求2所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:步骤(2)时,让所述多晶向偏离坩埚中心的方向生长后再向所述坩埚中心生长,并覆盖坩埚底部中心。
6.根据权利要求3所述的一种铸造单晶硅锭的方法,其特征在于:步骤(2)时,让单晶向坩埚中心生长,并覆盖坩埚底部中心。
7.一种权利要求1-6任意一项所述的铸造单晶硅锭的方法所使用的装置,其特征在于:包括,坩埚、可控导热底座、真空系统、冷却系统、加热系统、温度控制系统和运动控制系统;
其中,所述可控导热底座包括支撑所述坩埚的隔热支座和导热装置,所述导热装置的一端为低温端,所述低温端与所述冷却系统连接,所述导热装置的另一端与所述坩埚底部接触或不接触;
所述温度控制系统与所述加热系统和所述冷却系统连接;所述运动控制系统含有至少两套运动机构,分别与所述可控导热底座、所述导热装置连接。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于:所述导热装置为导热棒或热管。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于:所述导热棒或热管的柱状表面涂覆有隔热涂层。
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