[发明专利]推定电池寿命的方法、电池寿命推定装置和电动车辆有效

专利信息
申请号: 201310465229.8 申请日: 2013-10-08
公开(公告)号: CN103728561B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 宫木幸夫 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36;H02J7/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 吴孟秋,梁韬
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 推定 电池 寿命 方法 装置 电动 车辆
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请要求于2012年10月15日提交的日本在先专利申请JP2012-228122的权益,将其全部内容通过引用结合于此。

技术领域

本公开涉及推定诸如锂离子二次电池等的寿命的方法、用于诸如锂离子二次电池等的寿命推定装置、电动车辆和电力供应设备。

背景技术

作为一种在包括诸如电动车辆、混合动力车辆、电动摩托车以及电动自行车的动力领域或包括诸如负载平衡、峰值偏移、以及备用的电存储领域中的电源,锂离子二次电池已被广泛地使用。

在动力领域或电存储领域使用二次电池过程中,准确地推定二次电池的寿命是非常必要的。原因之一是在电池寿命被错误地推定为比实际寿命长,从而在使用设备时电池寿命超期的情况下,可能造成严重破坏或者产生严重事故。另一原因是,相反,在电池寿命被推定得过短的情况下,电池被不必要地更换。此外,因为电池被植入大规模系统中作为其一部分,不可能在任何时候都可以更换旧的电池。在这样的系统中,在基于推定出的电池寿命预先考虑应用状态等情况下根据计划更换旧电池是必要的。从上述观点看,已经强烈地需要一种推定电池的寿命的准确方法。

例如,在日本未审查专利申请公开第2007-322171(JP2007-322171A)号中,披露了一种计算车用电池的劣化程度和剩余容量的技术。此外,众所周知,满充容量根据电池的内阻变化和电池的电压降来推定。

发明内容

如果推定(估算)容量劣化的技术可用,则可以弥补测量评价的频率的不足从而可以用充分的时间确定电池寿命。众所周知,确定锂离子二次电池的剩余寿命是困难的。因此,随时间变化的单个条件,即,仅循环寿命或仅保存寿命已被测量出和推定出。该方法不是实用的方法。原因之一是实际使用的二次电池处于循环和保存这两种状态。因此,实现适用于能够处理随时间变化的各种条件的混合状态的实际应用的推定方法已经备受期待。在JP2007-322171A中披露的技术和现有的寿命推定方法被用于获取目前的劣化,但是就其推定未来的劣化程度而言是不充分的。

提供一种能够准确推定二次电池的寿命的推定寿命的方法、寿命推定装置、电动车辆及电源设备是备受期待的。

根据本技术的实施方式,提供一种推定电池寿命的方法,该方法包括:

对于在二次电池的初次充电后过去X天时具有劣化率R的二次电池,根据劣化主数据(degradation master data)计算在初次充电后(X+Y)天后的劣化推定值,通过使用用于计算的温度T和用于计算的电池状态S的条件识别(identify,确定)劣化主数据;以及

基于识别出的劣化主数据导出引起劣化率R的过去的天数Xcorr,并且从识别出的劣化主数据计算初次充电后(Xcorr+Y)天后的劣化推定值。

根据本技术的实施方式,提供一种电池寿命推定装置,包括:

存储部,被配置为存储多种类型的劣化主数据;

条件设置部,被配置为设置与用于计算的温度T和用于计算的电池状态S相关的条件;以及

控制器,被配置为获取劣化推定值,其中,

对于在二次电池的初次充电后过去X天时具有劣化率R的二次电池,电池寿命推定装置被配置为根据劣化主数据计算在初次充电后(X+Y)天后的劣化推定值,

控制器被配置为通过使用由条件设置部设置的条件来选择多种类型的劣化主数据中的一种,以及

控制器被配置为基于识别出的劣化主数据导出引起劣化率R的过去的天数Xcorr,并且根据识别出的劣化主数据计算初次充电后(Xcorr+Y)天后的劣化推定值。

根据本技术的实施方式,提供一种电动车辆,包括:

电池寿命推定装置,包括:

存储部,被配置为存储多种类型的劣化主数据,

条件设置部,被配置为设置与用于计算的温度T和用于计算的电池状态S相关的条件,以及

控制器,被配置为获取劣化推定值,其中,

对于在二次电池的初次充电后过去X天时具有劣化率R的二次电池,电池寿命推定装置被配置为根据劣化主数据计算在初次充电后(X+Y)天后的劣化推定值,二次电池被配置为产生车辆的驱动力,

控制器被配置为通过使用由条件设置部设置的条件选择多种类型的劣化主数据中的一种,以及

控制器被配置为基于识别出的劣化主数据导出引起劣化率R的过去的天数Xcorr,并且根据识别出的劣化主数据计算初次充电后(Xcorr+Y)天后的劣化推定值。

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