[发明专利]光电转换装置及其测试方法和成像系统及其制造方法

说明书

技术领域

本公开涉及光电转换装置和成像系统。

背景技术

在各像素列中具有模拟/数字（A/D）转换器和保持A/D转换结果的存储器的固态成像元件是已知的。日本专利申请公开No.2008-270433讨论了多个存储器被分成多个块并且对于各块设置列扫描电路的配置。在日本专利申请公开No.2008-270433中讨论的配置中，可通过仅从属于某个块的存储器读取信号来提取成像区域中的部分区域。但是，如果从某个块读取信号，那么随后级中的电路不能区分该信号是从哪个块读取的。

发明内容

根据本发明的一个方面，光电转换装置包括：像素阵列，包含以矩阵布置的多个像素；包含多个对的多个块，每个对包含与像素阵列中的列对应地设置的比较器和与比较器对应地设置的存储器；以及块信息供给单元，被配置为向包含于块中的多个存储器供给块信息，所述块信息用于在从所述多个块之中的一个块读取的信号与从另一块读取的信号之间进行区分。

根据本发明的另一方面，在光电转换装置的测试方法中，所述光电转换装置包括：像素阵列，包含以矩阵形式布置的多个像素；包含多个对的多个块，每个对包含与像素阵列中的列对应地设置的比较器和与比较器对应地设置的存储器；以及块信息供给单元，被配置为向包含于块中的多个存储器供给块信息，所述块信息用于在从所述多个块之中的一个块读取的信号与从另一块读取的信号之间进行区分，所述测试方法包括：比较预设的期望值与从光电转换装置输出的块信息；以及确定期望值是否与块信息一致。

从（参照附图）对示例性实施例的以下描述，本发明的进一步的特征将变得明显。

附图说明

图1是示出根据第一示例性实施例的光电转换装置的配置的框图。

图2是示出像素的配置的等效电路图。

图3是示出放大电路的配置的等效电路图。

图4是示出A/D转换单元的配置的等效电路图。

图5是示出块内（intra-block）扫描电路的配置的示图。

图6是示出光电转换装置的操作的时序图。

图7是示出部分读取模式中的光电转换装置的操作的时序图。

图8是示出块信息读取模式中的光电转换装置的操作的时序图。

图9是示出图像显示系统的配置的示意图。

图10是示出图像显示系统的操作的时序图。

图11是示出根据第二示例性实施例的光电转换装置的配置的框图。

图12是示出测试模式中的光电转换装置的操作的时序图。

图13是示出成像系统的配置的框图。

具体实施方式

以下将参照附图详细描述本发明的各种示例性实施例、特征和方面。在所有的多个附图中，共同的组件由同样的附图标记表示，并且将省略重复的描述。

现在将参照附图描述第一示例性实施例。

图1示出根据本示例性实施例的光电转换装置100。光电转换装置100包括像素阵列110、放大单元120、A/D转换单元130、行选择单元140、块输出单元150和信号输出单元190。

像素阵列110包含以矩阵布置的多个像素111。属于同一列的多个像素111共同与列信号线113连接。从像素111中的一个输出到列信号线113的信号经由设置在各列上的放大单元120被输入到A/D转换单元130。

A/D转换单元130包含块信息供给单元160、与多个比较器131共同连接的基准信号产生单元170、定时控制单元195和计数器180。A/D转换单元130在各像素列中包含比较器131、第一锁存（latch）电路132和第二锁存电路133。比较器131输出指示放大单元120的输出与从基准信号产生单元170供给的基准信号之间的大小关系的比较结果信号。定时控制单元195使计数器180与从基准信号产生单元170输出的基准信号的改变的开始同步地开始计数操作。定时控制单元195控制计数器180的操作，并且另外还向第一锁存电路132供给写信号WEN1和WEN2。第一锁存电路132通过使用比较结果信号或者写信号WEN1或WEN2作为触发来保持计数器180的输出。第二锁存电路133保持第一锁存电路132的输出。

供给写信号WEN1和WEN2的信号线组构成块信息供给单元160的一部分。