[发明专利]定位方法、电子设备和服务器

权利要求书

1.一种定位方法，所述方法应用于电子设备，其特征在于，所述方法包括：

获取第一定位信息，所述第一定位信息表明所述电子设备位于第一位置范围内；

获取所述电子设备所处位置的样本数据；

通过对所述样本数据进行特征提取来获取所述电子设备所处位置的样本特征；

获取所述第一位置范围的特征模型；以及

根据所述特征模型和所述样本特征来生成第二定位信息，所述第二定位信息表明所述电子设备位于所述第一位置范围中的第二位置范围内，

其中该特征模型是预先通过三维(3D)重建技术对特定场所重建的3D特征模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征模型和所述样本特征来生成所述第二定位信息的步骤包括：

将所述样本特征与所述特征模型进行比较；

当所述样本特征与所述特征模型中的一部分匹配时，将与所述匹配部分相关联的位置范围确定为所述第二位置范围；以及

根据所述第二位置范围来生成所述第二定位信息。

3.一种定位方法，所述方法应用于服务器，所述服务器与电子设备进行通信，其特征在于，所述方法包括：

从所述电子设备接收第一定位信息和所述电子设备所处位置的样本信息，所述第一定位信息表明所述电子设备位于第一位置范围内；

根据所述样本信息来生成第二定位信息，所述第二定位信息表明所述电子设备位于所述第一位置范围中的第二位置范围内；以及

向所述电子设备传送所述第二定位信息，

其中所述根据所述样本信息来生成第二定位信息的步骤包括：

获取所述第一位置范围的特征模型；以及

根据所述特征模型和所述样本信息来生成所述第二定位信息，

其中该特征模型是预先通过三维(3D)重建技术对特定场所重建的3D特征模型。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征模型和所述样本信息来生成所述第二定位信息的步骤包括：

判断所述样本信息的类型；

如果所述样本信息是样本特征，则直接根据所述特征模型和所述样本特征来生成所述第二定位信息；以及

如果所述样本信息是样本数据，则通过对所述样本数据进行特征提取来获取所述电子设备所处位置的样本特征，并且根据所述特征模型和所述样本特征来生成所述第二定位信息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征模型和所述样本特征来生成所述第二定位信息的步骤包括：

将所述样本特征与所述特征模型进行比较；

当所述样本特征与所述特征模型中的一部分匹配时，将与所述匹配部分相关联的位置范围确定为所述第二位置范围；以及

根据所述第二位置范围来生成所述第二定位信息。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

第一信息获取单元，用于获取第一定位信息，所述第一定位信息表明所述电子设备位于第一位置范围内；

样本数据获取单元，用于获取所述电子设备所处位置的样本数据；

第二信息获取单元，用于根据所述样本数据来获取第二定位信息，所述第二定位信息表明所述电子设备位于所述第一位置范围中的第二位置范围内；以及

样本特征提取单元，用于在所述样本数据获取单元获取所述电子设备所处位置的样本数据之后，通过对所述样本数据进行特征提取来获取所述电子设备所处位置的样本特征，

其中所述第二信息获取单元获取所述第一位置范围的特征模型，并且根据所述特征模型和所述样本特征来生成所述第二定位信息，

其中该特征模型是预先通过三维(3D)重建技术对特定场所重建的3D特征模型。

7.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述第二信息获取单元将所述样本特征与所述特征模型进行比较，当所述样本特征与所述特征模型中的一部分匹配时，将与所述匹配部分相关联的位置范围确定为所述第二位置范围，并且根据所述第二位置范围来生成所述第二定位信息。