[发明专利]超高频法局部放电信号衰减测量的试验装置

权利要求书

1.超高频法局部放电信号衰减测量的试验装置，其特征在于，包括高压引线端子、水平母线套筒和竖向母线套筒，所述水平母线套筒中通过绝缘子装配有水平高压导体，竖向母线套筒中通过绝缘子装配有竖向高压导体，高压引线端子与水平高压导体连接并且它们的连接处形成L型结构，竖向高压导体与水平高压导体之间通过隔离开关连接，隔离开关与竖向高压导体的连接处形成L型结构，高压引线端子与水平高压导体之间形成的L型结构处设有放电尖端，水平母线套筒中、隔离开关上、竖向母线套筒中对应竖向高压导体的外周和上端处分别设有超高频传感器，超高频传感器均通过等长的同轴电缆连接于一个示波器。

2.根据权利要求1所述的超高频法局部放电信号衰减测量的试验装置，其特征在于，竖向高压导体的上端处设有屏蔽头。

3.根据权利要求1所述的超高频法局部放电信号衰减测量的试验装置，其特征在于，高压引线端子与水平高压导体连接处的L型结构以及隔离开关与竖向高压导体的连接处形成的L型结构分别位于两个母线转接筒中，该两个母线支撑筒中、水平母线套筒中、隔离开关中、竖向母线套筒中用于固定的竖向高压导体相邻两绝缘子之间以及竖向母线套筒的顶部与其中位于最上方的绝缘子之间分别形成了独立的气室，各气室上分别设有充放气阀门。