[发明专利]数字放射成像曝光剂量的评价方法在审

专利信息
申请号: 201310440199.5 申请日: 2013-09-25
公开(公告)号: CN104460181A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 郭朋;李运祥 申请(专利权)人: 深圳市蓝韵实业有限公司
主分类号: G03B7/00 分类号: G03B7/00;G03B42/02;A61B6/00
代理公司: 深圳冠华专利事务所(普通合伙) 44267 代理人: 诸兰芬
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 数字 放射 成像 曝光 剂量 评价 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种医学放射成像技术,尤其是涉及一种数字放射成像曝光剂量的评价方法。

背景技术

随着现代医学技术的不断发展和医疗诊断手段的不断完善,DR图像在临床诊断、医学科研等医学图像分析方面有着广泛的应用。对于放射检查,辐射剂量是非常重要的,应在获得高质量图像的前提下尽可能的降低曝光参数,控制患者的辐射剂量。

中国专利申请CN201010561280.5公开一种数字放射成像曝光参数自适应修正的方法及系统,该申请是根据摄影体位和患者体型自动加载一套曝光参数,然后根据SID和滤线栅状态自动修正曝光参数,得到最终的曝光参数。但是,该申请只能控制当次曝光时的曝光参数以获得较佳的曝光影像,而无法评价图像的曝光剂量的高低。

目前有很多自动曝光控制(AEC)方法来控制当前拍摄图像时的曝光参数,但是还没有比较好的评价图像曝光剂量是否合适的方法。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提出一种数字放射成像曝光剂量的评价方法,从而方便后续调整曝光参数并获得曝光剂量适当的图像。

本发明采用如下技术方案实现:一种数字放射成像曝光剂量的评价方法,其包括步骤:

采集不同曝光电流下的多幅曝光图像,并记录每幅曝光图像对应的曝光剂量Dosei,通过线性拟合公式为Dosei=Slop*Meani+Offset确定每幅曝光图像的灰度均值Meani与对应的曝光剂量Dosei进行线性拟合时的斜率Slop和偏移量Offset;

在待评价的曝光图像中提取感兴趣区域并计算感兴趣区域的感兴趣值Value,利用公式EI=Slop*Value+Offset计算曝光指数EI;

通过计算曝光偏差指数DI,EIT为预设的目标曝光指数,曝光偏差指数DI为正时表示曝光剂量偏高,曝光偏差指数DI为负时表示曝光剂量偏低。

其中,在待评价的曝光图像中提取感兴趣区域的步骤包括:

利用OTSU分割算法,在待评价的曝光图像中分割出组织区域;

在组织区域中心位置按预设大小取组织区域作为感兴趣区域。

其中,所述感兴趣值Value是感兴趣区域的均值或截尾均值。

其中,预设的目标曝光指数EIT的确定依据包括:

通过采集若干幅与待评价的曝光图像为相同体位的原始曝光图像,计算每幅原始曝光图像的曝光指数;

并根据曝光指数EI的大小范围将这些图像分组,将曝光指数EI处于相同大小范围内的相应曝光图像划分为一组;

选择质量最优组对应曝光指数EI的均值作为胸片的目标曝光指数EIT

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:

本发明利用线性拟合法确定斜率Slop和偏移量Offset,并且利用大量数据确定目标曝光指数,提高了相关数据的准确性,并利用经典的OTSU分割算法分割组织区域,提高了本发明的稳定性与效率;本发明通过计算曝光偏差指数DI来对曝光剂量进行客观的量化评估,从而方便后续调整曝光参数,获得曝光剂量适当的图像。

附图说明

图1是本发明一个实施例的流程示意图。

图2是图1中步骤S1的详细流程示意图。

图3是图1中步骤S2的详细流程示意图。

图4是图1中步骤S3的详细流程示意图。

具体实施方式

本发明按照《中华人民共和国医药行业标准》中《医用电气设备—数字X射线成像系统的曝光指数》的相关要求与标准,开发了一种简单有效的计算曝光指数、目标曝光指数等参数的方法。

如图1所示,本发明包括如下实现步骤:

步骤S1、在使用不同类型的平板探测器前进行曝光指数的校正。

因不同平板探测器对剂量的响应不同,故使用不同类型的平板探测器前均需要先进行曝光指数校正。结合图2所示,所述步骤S1具体包括:

步骤S11、确定RQA5辐射质量,并将剂量仪置于平板探测器上。RQA5辐射质量是本领域研究人员所熟知的相关标准,故在此不做描述。

步骤S12、分别采集不同曝光电流(mAs)下的多幅曝光图像,并记录每幅曝光图像对应的曝光剂量Dosei

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