[发明专利]一种PDP玻璃收缩率的测定方法

说明书

技术领域

本发明属于玻璃制造领域，涉及一种PDP玻璃收缩率的测定方法。

背景技术

目前一些电子玻璃收缩率的制样方法、测定方法，大致相同。如玻璃样品切割的大小尺寸；都在玻璃样品两端做标记；玻璃样品退火使用普通退火炉；样品放置方式一般都是平放在耐火砖上，这样导致温度控制不是非常精密；收缩率测定原理相同，为样品热处理前后长度差与原长度比值。

PDP(Plasma Display Panel，等离子显示)，是一种利用气体放电的显示技术。目前，大部分PDP研究开发单位所用的玻璃基板为钠钙玻璃，也有用改进了热性能的钠钙玻璃如旭硝子的Asahi玻璃，PDP在制造工艺过程中，许多厚膜印刷材料、镀膜材料的热处理温度均高于钠钙玻璃的转移温度，且烧结炉存在不同程度的温度不均匀性，特别是在降温过程中，由于炉子的结构、炉温控制精度及工作方式等可能造成PDP玻璃基板各处的降温速率不同。在基板上涂敷各种浆料后多次在玻璃转移温度区加热、冷却，如果炉温分布不均匀或冷却速度不同，不仅会造成玻璃的扇形变形，还会在玻璃内部和玻璃与各种浆料间产生应力，应力严重时会导致基板玻璃的弯曲，因此PDP玻璃的收缩率测量对PDP的生产至关重要。

在测定PDP玻璃收缩率的过程中，制样环节非常关键。玻璃样品上划线和样品的热处理都直接影响收缩率的测定结果。目前，样品上划线大多采用玻璃刀，玻璃刀划出的线条较粗，不均匀，在热处理时有可能炸裂，这些都会使测量结果误差增大。另外，玻璃样品的热处理过程也直接影响玻璃样品的收缩率，目前很多收缩率热处理都是将玻璃平放在一块耐火砖上。如此，可能造成玻璃上下表面或局部受热不均，而影响玻璃热收缩不一致。

发明内容

为克服现有测量方法测量误差大，有可能造成测量样片炸裂的技术缺陷，本发明公开了一种PDP玻璃收缩率的测定方法。

一种PDP玻璃收缩率的测定方法，包括如下步骤：

步骤1.在PDP玻璃样片上划出测量线，将PDP玻璃样片切割分为基准片和测量片，且切割线分割测量线；

步骤2.将测量片放置在两个瓷舟包围形成的封闭空腔内，测量片的两端和侧边与瓷舟内壁之间填充有柔性耐高温材料；

步骤3.对瓷舟和测量片整体按照预先设定的加热曲线进行加热；

步骤4.加热完成后，对测量片退火冷却，对比测量基准片和测量片的测量线位移，计算收缩率。

本发明所述的PDP玻璃收缩率的测定方法，一方面使测量片在瓷舟内放置稳定，保证初始设置状态，使加热后放置方向不至于发生变化，同时在加热后的收缩过程中受到的阻力减小，使测量片热收缩量均匀，不受外力影响。

优选的，所述步骤1中在PDP玻璃样片上划出测量线是使用600-1000目砂纸划线。

采用600-1000目的砂纸在PDP玻璃样片上划出测量线，划出的测量线细，在高温下不会消失或变形，减小了测量误差，使测量变得简单方便。

优选的，所述步骤1中测量线为两条平行线，以PDP玻璃样片中线为对称轴对称分布，且切割线垂直于测量线。

进一步的，所述测量线距离测量片边界的距离占垂直于测量线方向上的测量片长度比例不大于10%。

进一步的，所述步骤4中测量收缩率S的方法为，S=（Lo-L1）×1000÷Lo，其中Lo和L1分别为基准片和测量片在退火冷却后的两条测量线之间的距离。

优选的，所述柔性耐高温材料为耐火棉。 

优选的，所述步骤4中使用偏光显微镜测量测量基准片和测量片的测量线位移。

优选的，所述测量片为矩形，长边与短边的长度比大于10。

进一步的，所述步骤3中测量片加热时呈竖直放置状态，底边为长度较长的一边。

采用本发明所述的PDP玻璃收缩率的测定方法，解决了玻璃热处理时受热不均的问题，使玻璃在热处理时，整块玻璃始终处于稳定的温度环境中，热收缩均匀，测定出的收缩率数据准确可靠。

附图说明

图1为本发明中一种切割PDP玻璃样片的具体实施方式示意图；

图2示出本发明在计算收缩率时测量的各个参数示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。