[发明专利]应用于触控面板的基线校准方法及其系统

权利要求书

1.一种应用于触控面板的基线校准方法，所述触控面板具有多条传输电极与多条感测电极，各所述传输电极与各所述感测电极形成一交越点，其特征在于，所述基线校准方法包括：

通过一第一轴向计算程序计算出每一所述传输电极上的一第一差值；

通过一第二轴向计算程序计算出每一所述感测电极上的一第二差值；以及

将各个所述第二差值与各个所述第一差值进行计算以取得一基线校正值。

2.根据权利要求1所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，在所述第一轴向计算程序中包括：

设定一预设参考值；

当将至少一第一扫描信号依序扫描第一轴向的一第一传输电极时，每一个所述第一扫描信号都将计算出一第一平均值，其中所述第一平均值为所述第一传输电极上的所述交越点的一感测值的相加之后的平均值；以及

利用一搜寻过程以所述预设参考值为基准，从所述第一扫描信号中计算出属于所述第一传输电极的第一差值。

3.根据权利要求1所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述第二差值为一第二平均值与所述第一差值的计算过程所暂存的一最低有效位计算而获得，所述第二平均值为各个所述感测电极上的所述交越点的所述感测值的相加之后的平均值。

4.根据权利要求2所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述基线校准方法还包括：

将至少一第二扫描信号依序扫描第一轴向的一第二传输电极，每一个所述第二扫描信号都将计算出所述第二传输电极上所述交越点的所述感测值的所述第一平均值；以及

利用所述搜寻过程以所述预设参考值为基准，从所述第二扫描信号计算出属于所述第二传输电极的所述第一差值。

5.根据权利要求1所述的基线校准方法，其特征在于，所述基线校准方法还包括：

使用各所述基线校正值校正各所述传输电极与各所述感测电极所形成的每一所述交越点。

6.根据权利要求2所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述搜寻过程为二位搜寻法。

7.根据权利要求2所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述感测电极根据所述触控面板所耦接的一检测前端器的通道数目分成至少一个扫描群组。

8.根据权利要求7所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述第一传输电极在一第一扫描群组中，通过所对应于各个所述感测电极的所述交越点的所述感测值计算出各个所述扫描信号于所述第一传输电极上的一第一群组平均值。

9.根据权利要求8所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，在所述第一扫描群组中，根据所述第一扫描信号的所述第一群组平均值计算出属于所述第一扫描群组中所述第一传输电极的一第一群组差值。

10.根据权利要求7所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，所述第一传输电极在一第二扫描群组中，通过所对应于各个所述感测电极的所述交越点的所述感测值计算出各所述扫描信号于所述第一传输电极上的一第二群组平均值。

11.根据权利要求10所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，在所述第二扫描群组中，根据所述第一扫描信号的所述第二群组平均值计算出属于所述第二扫描群组中所述第一传输电极的一第二群组差值。

12.根据权利要求9所述的应用于触控面板的基线校准方法，其特征在于，将计算出的所述第一群组差值直接用以当作所述第一传输电极的所述第一差值。

13.一种应用于触控面板的基线校准系统，其特征在于，所述基线校准系统包括：

一触控面板，所述触控面板具有第一轴向的多条传输电极与第二轴向的多条感测电极，且各所述传输电极与各所述感测电极均形成一交越点；以及

一基线校正单元，耦接于所述触控面板；其中，

所述基线校正单元通过一第一轴向计算程序计算出每一传输电极上的一第一差值；

所述基线校正单元通过一第二轴向计算程序计算出每一感测电极上的一第二差值；

所述基线校正单元将各个所述第二差值与各个所述第一差值进行计算以取得一基线校正值。