[发明专利]InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器及制备方法有效
| 申请号: | 201310424535.7 | 申请日: | 2013-09-17 |
| 公开(公告)号: | CN103487883A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
| 发明(设计)人: | 吕倩倩;韩勤;崔荣;李彬;尹伟红;杨晓红 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | G02B6/136 | 分类号: | G02B6/136;G02B6/42 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | inp 无源 波导 光纤 光斑 转换 耦合器 制备 方法 | ||
1.一种InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器,包括:
一衬底;
一下包层,其制作在衬底的中间部位,其形状为铲子形,一端为铲子的头部,另一端为柄部;铲形头部的前半部分为矩形结构,后半部分的宽度逐渐减小并对接到柄部;
一芯层,其制作在下包层的上面,其形状与下包层一致;
一上包层,其制作在芯层柄部的上面及铲子头部的后半部分,且其形状为条状结构。
2.根据权利要求1所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器,其中衬底的材料为未掺杂的InP。
3.根据权利要求1所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器,其中下包层的材料为InP或InP/InGaAsP量子阱周期结构,厚度为2-5微米。
4.根据权利要求1所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器,其中芯层的材料为未掺杂的InGaAsP,厚度为0.3—0.6微米。
5.根据权利要求1所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器,其中上包层是未掺杂的InP,铲形头部后半部分上包层厚度为0.3—0.4,宽度为1.5-2.5微米;铲形柄部的上包层厚度为1.2-1.8微米。
6.一种InP基无源线波导的光纤光斑转换耦合器的制备方法,包括如下步骤:
步骤1:取一衬底;
步骤2:在衬底上依次生长下包层、芯层和上包层;
步骤3:在上包层上生长二氧化硅层;
步骤4:采用刻蚀的方法,在二氧化硅层的上面向下刻蚀,刻蚀深度到达衬底的表面,刻蚀的形状为一铲子形,该铲子形分为头部和柄部;柄部为较窄的线波导,头部的前半部分为较宽的直波导,后半部分为抛物线形波导,波导宽度逐渐减小对接在柄部的线波导上;
步骤5:去掉刻蚀后剩余的二氧化硅层;
步骤6:刻蚀铲子形的头部上的上包层,刻蚀深度小于上包层的厚度;
步骤7:在铲子形的头部所剩余的上包层上制作图形,刻蚀成一窄条状结构,其位于铲子形头部的后半部分的渐变波导之上,条状结构的厚度为0.3—0.4,宽度为1.5-2.5微米,完成制备。
7.根据权利要求6所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器的制备方法,其中衬底的材料为未掺杂的InP。
8.根据权利要求6所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器的制备方法,其中下包层的材料为InP或InP/InGaAsP量子阱周期结构,厚度为2—5微米。
9.根据权利要求6所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器的制备方法,其中芯层的材料为未掺杂的InGaAsP,厚度为0.3-0.6微米。
10.根据权利要求6所述的InP基的无源线波导的光纤光斑转换耦合器的的制备方法,其中上包层是未掺杂的InP,其厚度为1.2-1.8微米厚。
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