[发明专利]电子设备及控制该电子设备的方法在审
| 申请号: | 201310418227.3 | 申请日: | 2013-09-13 |
| 公开(公告)号: | CN103675585A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
| 发明(设计)人: | 金成雨;李正珉 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星;王占杰 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子设备 控制 方法 | ||
技术领域
本公开的示例性实施例涉及一种电子设备及控制该电子设备的方法,更具体地讲,涉及一种缩短用于测试电子设备的连接器的时间从而提高生产力的电子设备及控制该电子设备的方法。
背景技术
为了测试电子设备的端子,已使用了外部装置。
外部装置可直接连接到电子设备的端子并产生信号。产生的信号可通过所述端子输入到电子设备并用于测试所述端子。
然而,外部装置需要连接到端子以及与端子断开,信号需要被产生并被输入等。因此,测试电子设备的端子花费相当大的时间。即使在未发现缺陷(NDF)的情况下也使用测试使用的时间,因此降低了生产力。
发明内容
另外的方面和/或优点将在下面的描述中部分地阐明,并且从描述中部分是清楚的,或者通过本发明的实施可以被理解。
根据示例性实施例,提供一种缩短用于测试电子设备的连接器的时间从而提高生产力的电子设备及控制该电子设备的方法。
根据示例性实施例的一方面,一种电子设备包括:连接器,包括与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚;信号处理器,产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或更多个引脚之中的第一引脚;控制器,根据通过在两个或多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
所述电子设备可包括短路辅助器。
所述电子设备还可包括显示器。
连接器是否有缺陷可被输出到显示器并显示在显示器上。
所述电子设备还可包括存储器,存储关于测试信号的信息。
测试信号可包括数字信号并具有数字值的特征。
测试信号可包括模拟信号并具有频率的特征。
测试信号可包括至少一个测试信号,并被同时输出到两个或多个引脚。
短路辅助器可具有用于根据输出的测试信号的特征来对所述两个或更多个引脚进行分类并短路的结构。
短路辅助器可具有形状如与电子设备分离地进行设置并连接到连接器的盖子的结构。
根据示例性实施例的一方面,一种电子设备的控制方法包括:使与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚短路;产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或多个引脚之中的第一引脚;根据通过在所述两个或更多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
使两个或多个引脚短路的步骤可包括:将短路辅助器连接到连接器。
所述电子设备可包括显示器。
连接器有缺陷可被输出到显示器并显示在显示器上。
所述控制方法可包括存储关于测试信号的信息,其中,输出测试信号的步骤包括:基于存储的信息产生测试信号。
测试信号可包括数字信号并具有数字值的特征。
测试信号可包括模拟信号并具有频率的特征。
测试信号可包括至少一个测试信号,并被同时输出到所述两个或更多个引脚。
短路辅助器可根据输出的测试信号的特征对两个或多个引脚进行分类并短路。
短路辅助器可与电子设备分离地进行设置并连接到连接器。
附图说明
从以下结合附图对示例性实施例的描述中,以上和/或其它方面将变得清楚并更容易理解,在附图中:
图1示出根据示例性实施例的电子设备;
图2示出根据示例性实施例的电子设备;
图3示出根据示例性实施例的电子设备;
图4示出根据示例性实施例的施加到信号处理器与通过短路辅助器而短路的连接器之间的示例性测试信号;
图5示出施加测试信号的示例性测试结果;
图6示出根据示例性实施例的施加到信号处理器与通过短路辅助器而短路的连接器之间的示例性测试信号;
图7示出施加测试信号的示例性测试结果;
图8示出根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图;
图9示出根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图。
具体实施方式
参照附图详细描述示例性实施例。
图1示出根据示例性实施例的电子设备。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310418227.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





