[发明专利]一种防滑刹车控制盒高加速应力筛选的方法有效
| 申请号: | 201310416007.7 | 申请日: | 2013-09-12 | 
| 公开(公告)号: | CN103512716A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 | 
| 发明(设计)人: | 乔建军;刘劲松 | 申请(专利权)人: | 西安航空制动科技有限公司 | 
| 主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 | 
| 代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 慕安荣 | 
| 地址: | 710075 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 防滑 刹车 控制 加速 应力 筛选 方法 | ||
技术领域
本发明涉及运输类飞机电子产品的高加速应力筛选领域,具体是一种利用三综合设备进行飞机防滑刹车控制盒的高加速应力筛选的方法。
背景技术
电子产品的高加速应力筛选技术来自美国通用汽车公司GMW8287《高加速寿命、高加速应力筛选和抽检》标准,简称HASS,是国外一种先进的电子产品筛选方法。用于替代电子产品的普通筛选方法,简称ESS。普通筛选方法执行MIL-STD-2164《电子设备环境应力筛选方法》标准。HASS是电子产品的一种专用筛选技术,一种产品的筛选技术仅适用于该类产品,不能用于其他产品,这种专用性是和普通筛选方法本质的区别。制定高加速应力筛选剖面之前必须完成高加速寿命试验和相应的技术改进。
GMW8287分为两部分内容,第一部分是高加速寿命试验,简称HALT试验,包括高温步进试验、低温步进试验、快速温度变化试验、综合环境应力试验等,HALT的目的有二个,其一是激发故障隐患,并对所激发出的故障采取技术改进,改进进行到无条件再改或者已经具有很大的技术余度,已无必要再进行改进时为止,从而提高电子产品的寿命和可靠性;其二,最后一次高加速寿命试验过程中产生的数据作为制定高加速应力筛选剖面的依据,用高加速应力筛选替代普通的环境应力筛选,提高对故障的筛选度,节约试验经费和时间。第二部分是高加速应力筛选试验,简称HASS试验,HASS试验按照HASS剖面进行,HASS剖面中的试验参数依据HALT试验得到的结果确定,HASS的目的也有二个,其一是将80h的普通环境应力筛选缩短为约2h~6h,依据电子产品的大小而定,其二是保证出厂电子产品的寿命与可靠性要求达到最后一次HALT试验的水平。
GMW8287标准推荐的高加速应力筛选试验设备是可靠性强化试验设备,这种设备具有三轴六自由度的机械振动系统和60℃/min温度变化速率。
国外现状:
早在1960年,国外的高加速寿命试验/高加速应力筛选试验技术就已经面世,采用GMW8287标准制定电子产品的高加速寿命/高加速应力筛选试验剖面和详细要求,且每一种类型的电子产品分别进行高加速寿命试验,然后制定相应的高加速应力筛选试验剖面;且在制定高加速应力筛选试验剖面前,根据高加速寿命试验中激发的高温故障隐患、低温故障隐患、振动故障隐患、快速温度变化故障隐患、综合环境应力故障隐患进行技术改进,完成上述技术改进后高加速寿命试验结束;国外在高加速寿命/高加速应力筛选试验过程中仅施加环境应力并通电,不施加工作电流。
当进行高加速寿命试验的电子产品还要求采用高加速应力筛选方法对出厂产品进行技术检验时,就根据最后一次的完整高加速寿命试验数据确定高加速应力筛选试验剖面。具体到受试产品的HALT/HASS技术,作为企业级的绝密技术从不外泄。国外电子产品的筛选采用HASS方法和MIL-STD-2164的方法,两种方法并行。
国外采用可靠性强化试验设备进行HALT/HASS。
国内现状:
受国外先进试验技术的影响,国内的高加速寿命试验在三资企业、独资企业已经实施多年。约有100多家独资或三资企业拥有可靠性强化试验设备,并将进行高加速寿命试验作为研制程序,根据高加速寿命试验过程中激发出的故障隐患,完成同型号电子产品的故障纠正措施。但未根据高加速寿命试验数据进行过HASS试验,出厂产品还是按照GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》中规定的普通方法进行筛选。原因是国内有普通筛选标准,但没有颁布高加速应力筛选试验的标准,使研究和推广这项技术有难度。
国有企业从2011年开始在电子产品研制中采用高加速寿命试验技术,也叫可靠性强化试验,激发和排除电子产品在研制中产生的故障隐患。但没有在高加速寿命试验的基础上制定高加速应力筛选试验剖面,目前仍然采用GJB1032中的普通方法进行筛选。GJB1032是MIL-STD-2164的等效标准,筛选所用的时间一般为80h。
广州电子五所、北航可靠性工程研究所和中航工业301所等单位研究高加速寿命/高加速应力筛选技术均已有10多年时间,试验设备和技术能力通过了国家技术鉴定,成为国家级环境与可靠性试验的资质单位。
由于国外近50年的技术保密,使国有企业等产品研制单位对这项技术缺乏认识,国家机关也未发布应用这项技术的标准或规定,所以在电子产品研制中未开发这项技术,各电子产品研制单位也未将这项技术纳入研制要求。
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