[发明专利]用于产生非破坏性检查孔隙率标准的方法和装置

说明书

技术领域

本公开主体上涉及非破坏性检查（NDI）标准，具体地，涉及用于孔隙率的非破坏性检查标准。更具体地，本公开涉及使用计算机断层摄影法（CT）用于产生针对孔隙率的非破坏性检查标准的方法和装置。

背景技术

非破坏性检查（NDI）指使用来在没有改变物体的情况下评估物体特性的分析技术组。非破坏性检查还可以指非破坏性检验（NDE）、非破坏性测试（NDT）或非破坏性评估（NDE）。不同类型的非破坏性检查技术可以使用来评估复合材料和由复合材料组成的物体。这些不同的技术包括但不限于，超声波测试（UT）、X光线照相测试和振动分析。

时常，可以产生标准，用于使用非破坏性检查评估物体。如本文中所使用地，“标准”是具有与正评估物体相同一组特性的材料的参考物质或样本。这些特性可以包括但不限于，例如，材料成分、几何结构、厚度和/或其它类型的特性。

有时，使用标准来校准用于测试物体的非破坏性检查系统。另外，可以使用用于测试物体的非破坏性检查系统检查标准。针对这些标准的非破坏性检查系统产生的数据，可以用作与针对部件的非破坏性检查系统产生的部件数据（part data）进行比较的参考数据。换句话说，当评估部件数据时，参考数据可以用于比较。

作为一个说明性实例，可以建立标准组，用于评估由复合材料组成的部件的孔隙率。在该实例中，标准组中的每个标准是先前识别为具有具体孔隙率的复合材料。

然而，用于建立非破坏性检查标准的一些现在可以利用的方法，形成复合材料的样本以及识别这些样本中每个的孔隙率所需要的时间、努力和/或成本可以大于所要求的。例如，用一些现在可以利用的方法，形成样本需要执行任何数目的磨砂操作、抛光操作、切割操作和/或其它类型操作，从而制备测试样本的一个边缘。这些操作比要求的更费时。

进一步，然后，例如但不限于使用超声波测试技术分析分析样本。然后基于样本的高度和重量，利用软件来估计样本边缘的孔隙率水平。然后，使用该估计的孔隙率来估计整个样本的孔隙率水平。然而，该类型估计比要求的精确性低。

因此，使用这些类型的现在可以利用的方法建立的标准，不允许所针对物体建立的标准待评估和要求。因此，需要具有考虑至少上述问题中的一些以及其它可能问题的方法和装置。

发明内容

在一个说明性实施例中，提出了用于建立非破坏性检查的方法。针对多个样本中每个样本使用不同的技术形成多个样本，使得多个样本中的每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本与选择的部件类型具有相同的成组选择的特性。使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，识别针对多个样本中每个样本的孔隙率水平。基于针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组。标准组经配置用于执行选择的部件类型的部件的非破坏性检查。

在另一个说明性实施例中，提出了使用非破坏性检查评估部件的方法。通过使用非破坏性检查系统，针对部件执行标准组中的每个标准的非破坏性检查，产生针对标准组的参考检查数据。基于使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立标准组。通过使用非破坏性检查系统执行部件的非破坏性检查，产生针对部件的部件检查数据。使用参考检查数据和部件检查数据，识别针对部件的部件孔隙率水平。

在另一个说明性实施例中，装置包括多个样本和数据分析器。形成多个样本，使得多个样本中的每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率，并且使得多个样本中每个样本与选择的部件类型具有相同的成组选择的特性。数据分析器经配置，从而使用从计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像提取的体积数据，识别针对多个样本中的每个样本的孔隙率水平。基于针对多个样本中的每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组。标准组经配置用于执行选择部件类型的部件的非破坏性检查。

在本发明的各种实施例中能够独立地实现特征和功能，或者在其它实施例中功能和特征可以结合，其中参考下面的发明内容和图可以知道进一步的细节。

附图说明

在所附的权利要求中，列出了说明性实施例特有的新颖特征。然而，当连同附图阅读时，参考本公开的说明性实施例的下列详细描述，能更好地理解说明性实施例以及优选的使用模式、其另外的目的和特征，其中：

图1是按照说明性实施例的以方框图形式的检查环境的说明；

图2是安装说明性实施例的检查环境的说明；