[发明专利]一种LED高亮度倒装芯片以及制作方法有效

专利信息
申请号: 201310406608.X 申请日: 2013-09-09
公开(公告)号: CN103441198A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 魏天使;刘撰;陈立人;余长治;李忠武 申请(专利权)人: 聚灿光电科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 亮度 倒装 芯片 以及 制作方法
【权利要求书】:

1.一种LED高亮度倒装芯片,包括衬底,成形在所述衬底上、且由N型导电层、发光层和P型导电层组成的外延层,分别与N型导电层和P型导电层电连接的N型电极和P型电极,和具有N型、P型导电区域的散热基片,所述N型电极和P型电极分别与所述散热基片的N型导电区域和P型导电区域电连接,所述衬底背面作为所述倒装芯片的出光面,其特征在于,所述倒装芯片包括DBR反射层,所述DBR反射层成形在所述倒装芯片上,所述P型电极贯穿所述DBR反射层并向外延伸。

2.如权利要求1所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述倒装芯片包括成形在所述P型导电层上的透明导电层,所述DBR反射层成形在所述透明导电层上,所述N型电极和所述P型电极分别成形在所述N型导电层和所述透明导电层上,所述P型电极贯穿所述DBR反射层并向外延伸。

3.如权利要求2所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述倒装芯片进一步包括电流阻挡层,所述电流阻挡层介于所述P型导电层与所述透明导电层之间。

4.如权利要求1所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述倒装芯片包括透明导电层和绝缘钝化层,所述透明导电层成形在所述P型导电层上,所述绝缘钝化层成形在所述透明导电层和所述N型导电层上;

所述DBR反射层通过所述绝缘钝化层成形在所述透明导电层上;

所述N型电极和P型电极分别成形在所述N型导电层和所述透明导电层上,所述N型电极贯穿所述绝缘钝化层并向外延伸,所述P型电极贯穿所述绝缘钝化层和所述DBR反射层并向外延伸。

5.如权利要求1所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述N型电极底部和P型电极底部均包括导电反射镜层。

6.如权利要求5所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述N型电极和P型电极分别依次包括有导电反射镜层、第一粘附层和第一焊接层,所述散热基片的N型导电区域和P型导电区域上分别依次成形有第二粘附层和第二焊接层,所述第一焊接层与所述第二焊接层分别通过焊接工艺进行电连接。

7.如权利要求1所述的LED高亮度倒装芯片,其特征在于,所述衬底背面设有粗化图形结构或成形有透光层。

8.一种如权利要求1-7任意一项所述的LED高亮度倒装芯片的制作方法,其特征在于,其操作步骤包括:

a10)、正装工序;通过正装工序得到预成形芯片;

b10)、倒装工序;将上述步骤a10)得到的预成形芯片通过倒装工序得到LED高亮度倒装芯片;

其中,所述正装工序包括DBR反射层制作成形工序。

9.如权利要求8所述的LED高亮度倒装芯片的制作方法,其特征在于,所述倒装芯片还包括透明导电层和绝缘钝化层,其中,所述正装工序a10)具体包括以下步骤:

a11)、在衬底上制作成形由N型导电层、发光层和P型导电层组成的外延层;

a12)、采用刻蚀工艺制作PN台阶,PN台阶的上台阶面为P型导电层,其下台阶面为N型导电层;

a13)、在所述P型导电层上制作成形透明导电层;

a14)、分别在N型导电层和透明导电层上制作成形N型电极和P型电极;

a15)、在N型导电层和透明导电层上制作成形绝缘钝化层,然后通过刻蚀工艺分别将N型电极和P型电极贯穿所述绝缘钝化层并向外延伸;

a16)、在覆盖有绝缘钝化层的透明导电层上制作成形DBR反射层,然后通过剥离工艺将P型电极贯穿所述DBR反射层并向外延伸;

a17)、完成正装工序,得到预成形芯片。

10.如权利要求8所述的LED高亮度倒装芯片的制作方法,其特征在于,所述倒装工序b10)为:将上述步骤a10)得到的预成形芯片通过焊接工艺与所述散热基片的N型导电区域和P型导电区域电连接,得到LED高亮度倒装芯片。

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