[发明专利]景观结构—地表温度—电量消耗的耦合模型及应用有效

专利信息
申请号: 201310406259.1 申请日: 2013-09-09
公开(公告)号: CN103473613A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 吴浩;叶露萍;李岩;尤南山 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06Q50/06
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 王守仁
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 景观 结构 地表 温度 电量 消耗 耦合 模型 应用
【权利要求书】:

1.景观结构—地表温度—电量消耗的耦合模型,其特征在于该耦合模型为:

ΔP(d)=416.3ΔT=416.3Δf(x11,.x12,.x13,......xpq......,x54,x55,y1,y2,y3,y4,y5),]]>

式中:

ΔP(d)是日用电量预测差值;ΔT代表日平均气温预报差值;是p用地的q景观指数;

p=1,2,3,4,5:分别表示建设用地,水域,林地,农业用地,未利用地;

q=1,2,3,4,5:分别表示类级的景观指数、PLAND、PD、ED、LSI、CLUMPY;y1是斑块密度PD,y2是景观形状指数LSI,y3是蔓延度指数CONTAG,y4是香农多样性指数SHDI,y5是香农均度指数SHEI,这些指数均为景观级指数。

2.根据权利要求1所述的耦合模型,其特征在于斑块密度PD由以下公式获得:

PD=ni×10000A×100,]]>

式中:ni是i类型斑块在景观中的斑块总数;A是整个景观面积。

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