[发明专利]一种共聚焦测量涂镀层厚度的方法无效

专利信息
申请号: 201310405327.2 申请日: 2013-09-06
公开(公告)号: CN103453839A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 杨洪刚;李锋;吕家舜;周芳;徐承明;王永明 申请(专利权)人: 鞍钢股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01N21/84
代理公司: 鞍山华惠专利事务所 21213 代理人: 赵长芳
地址: 114021 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 聚焦 测量 镀层 厚度 方法
【权利要求书】:

1.一种共聚焦测量涂镀层厚度的方法,其特征在于,采用机械手段在涂镀层表面钻出圆锥型小孔,利用激光共聚焦显微镜三维成像技术对剖面为V型孔进行成像处理,采用共聚焦高度差测量功能测量V型孔内涂镀层与基板结合部和涂镀层外表面之间的高度差,从而确定涂镀层厚度;其具体操作步骤为:

(1)、彩涂涂层面漆厚度测量:

a、利用V型钻头在钢板涂层表面钻出锥度在15°~60°的圆锥型小孔,孔深延伸到基板内部;

b、将V型孔放在激光共聚焦显微镜载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;

c、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;

d、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌,得到V型孔区域的三维实物形貌;

e、激光共聚焦测量:涂层面漆厚度测量:选取V型孔内涂层底部与基板结合部的测量点,测量该点与涂层外表面之间的高度差,即为待测涂层的厚度; 

(2)、热浸镀层层厚测量:

a、V型孔腐蚀处理;采用0.5~2vol%硝酸酒精对V型孔区域进行腐蚀处理,用酒精将V型孔区域清洗干净,使镀层和基板在共聚焦显微镜下呈现不同色差或形貌;

b、将V型孔放在激光共聚焦显微镜载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;

c、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;

d、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌图,得到V型孔区域的三维实物形貌;

e、激光共聚焦测量:镀层厚度测量:选取V型孔内镀层底部与基板结合部的测量点,测量该点与镀层外表面之间的高度差,即为待测镀层的厚度;

(3)彩涂涂层底漆厚度测量:

a、将V型孔放在激光共聚焦显微镜的载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;

b、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;

c、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌图,得到V型孔区域的三维实物形貌;

d、激光共聚焦测量:彩涂涂层底漆厚度测量:测量基板与面漆之间的底漆厚度时,直接选取V型孔内底漆与基板结合部的测量点和底漆与面漆结合部的测量点,测量该两点之间的高度差,即为底漆的厚度。

2.根据权利要求1所述的共聚焦测量涂镀层厚度的方法,其特征在于,在对彩涂涂层面底漆厚度和热浸镀层厚度进行激光共聚焦测量时,其外表面测量点远离V型孔区域,距离大于V型孔边缘隆起宽度的2倍。

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