[发明专利]一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法

权利要求书

1.一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于步骤为：

第一步，对被检测匀质材料的厚度进行预先估算，选取标准阶梯试块；

第二步，对选定的标准阶梯试块进行射线照相，并用黑度计测量标准阶梯试块对应的黑度值；

第三步，对第二步中用黑度计测量的射线底片的黑度值与第一步中选取的标准阶梯试块的厚度值进行拟合，得到拟合公式；

第四步，用第二步的方法，对待测匀质材料实施照相，对射线底片的黑度值进行测量，将黑度值代入第三步得到的拟合公式中，即可计算出待测匀质材料的厚度值。

2.根据权利要求1所述的一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于：标准阶梯试块射线照相的标准为GJB1187A-2001。

3.根据权利要求1所述的一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于：黑度计的精度不低于百分之一。

4.根据权利要求1所述的一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于：第三步中的拟合公式为指数拟合公式。

5.根据权利要求4所述的一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于：指数拟合公式为y=ae^-bx，其中y是黑度值，x是厚度值；a，b均为系数。

6.根据权利要求5所述的一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法，其特征在于：指数拟合公式的精度分析方法为：设厚度x误差为Δx，黑度y误差为Δy，则有：y+Δy=ae^-b(x+Δx)

Δy=(y+Δy)-y=ae^-b(x+Δx)-ae^-bx

当Δx很小时，有:

ΔyΔx≈limΔx→0ΔyΔx=limΔx→0ae-b(x+Δx)-ae-bxΔx=(ae-bx)′=-abe-bx]]>

Δy≈-b(ae^-bx)Δx=-byΔx

于是厚度测量系统精度近似等于：

|Δyy|≈|-byΔxy|=bx|Δxx|.]]>