[发明专利]一种TFT阵列基板及显示面板、显示装置

权利要求书

1.一种TFT阵列基板，包括：一基板，具有显示区域和所述显示区域的外围区域；

焊盘测试区，形成在所述外围区域，所述焊盘测试区包括至少两个测试点，所述测试点相互之间至少存在一间隙，所述间隙具有间隙方向；

配向膜，形成在所述显示区域，所述配向膜具有配向方向；

所述间隙方向与所述配向方向在同一平面上交错，并至少具有一交错角；

所述交错角中至少有一交错角大于5度。

2.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述测试点相互间的排列方式为穿插交错排列。

3.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述测试点至少排列成两行，即第一行测试点、第二行测试点，所述第一行测试点与所述第二行测试点是相互穿插交错排列。

4.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述测试点至少排列成三行，即第一行测试点、第二行测试点、第三测试点，所述第一行测试点、所述第二行测试点及所述第三行测试点相互间穿插交错排列。

5.如权利要求3或4所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述测试点的几何外形相同且大小一致。

6.如权利要求2所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述测试点的几何外形为圆形、三角形、四边形、五边形、六边形、七边形或八边形。

7.如权利要求6所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述四边形为平行四边形、菱形或正方形。

8.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述焊盘测试区至少包括Data R测试点、Data G测试点、Data B测试点、COM测试点、Switch测试点、Gate Odd测试点、Gate Even测试点。

9.如权利要求8所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述焊盘测试区还包括STV测试点、CLK测试点或CKB测试点。

10.一种显示面板，其特征在于，包括：如权利要求1-9任一项所述的TFT阵列基板，与所述TFT阵列基板相对设置的彩膜基板，以及位置所述TFT阵列基板与所述彩膜基板的液晶层。

11.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求10所述的显示面板。