[发明专利]Cr-B-C纳米复合薄膜的制备方法有效
申请号: | 201310397132.8 | 申请日: | 2013-09-04 |
公开(公告)号: | CN103469169A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 王谦之;周飞;陈建云 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人: | 贺翔 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cr 纳米 复合 薄膜 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及摩擦学及表面工程领域,具体的说,涉及的是一种Cr-B-C纳米复合薄膜的制备方法。
背景技术
碳化硼(B4C)具有仅次于金刚石和立方氮化硼的硬度,也因其具有高弹性模量、良好稳定的化学和力学性质、较低的热膨胀系数等一系列优良性能,作为耐磨材料引起了摩擦学界的重视。然而经过大量的研究发现,碳化硼的断裂韧性低、抗氧化能力差、对金属的稳定性差,在使用过程中容易发生断裂,对环境要求和工件材料的选择比较苛刻。为了进一步改善以上提到的缺点,国内外学者们发现在B-C基的基础上加入过渡族金属元素可以降低B4C薄膜的摩擦系数和磨损量,并可以提高其抗腐蚀和抗氧化的能力。作为过渡族元素的Cr具有良好的综合性能(耐磨性和抗腐蚀性),将其引入到B4C薄膜中,制备出Cr-B-C纳米复合薄膜,不仅仅可以克服B4C薄膜自身的缺陷,还能使其具有多功能性。
发明内容
本发明提供一种Cr-B-C纳米复合薄膜的制备方法,采用直流磁控和射频磁控共溅射的方法,可以在较低的温度下沉积Cr-B-C纳米复合薄膜。
该方法包括以下步骤:
1)基材和靶材的准备:将基材打磨抛光并清洗吹干后装夹在载物台上,正对离子束源;将直流磁控靶材和射频磁控靶材分别安装到相应的仪器上,所述的直流磁控靶材、射频磁控靶材含有Cr、B或Cr、B、C元素;
2)基材离子清洗:用Ar+离子束轰击基材,清洗和活化基材;
3)薄膜制备:通入高纯氩气或氩气和乙炔混合气体,采用直流磁控和射频磁控共溅射,在基材上制备Cr-B-C纳米复合薄膜,工艺参数为:气压4.0~5.0×10-1Pa;直流磁控溅射功率50~150W;射频磁控溅射功率50~250W;负偏压0~100V;占空比20%~80%;载物台旋转速度0~100rpm;制备温度Rt~300℃;制备时间3~4h。
进一步改进,所述的基材是单晶Si片、不锈钢、钛合金、玻璃的任一种。
进一步改进,所述步骤2)的基材离子清洗工艺参数为:真空度10-4Pa,Ar气流量0~50sccm,基材负偏压0~1200V,占空比0~100%。
进一步改进,所述步骤3)的磁控溅射前,控制Ar气流量0~50sccm,开启直流和射频电源,让靶材空跑5-10分钟,去除靶材表面的氧化物。
进一步改进,所述的直流磁控溅射使用Cr靶;射频磁控溅射使用B4C靶;步骤3)通入高纯氩气,腔体内的气压稳定在4.0~5.0×10-1Pa;直流磁控溅射功率50~150W;射频磁控溅射功率50~250W;基材负偏压是0V-100V;占空比为20%-80%;基材温度Rt~300℃;沉积时间为4h。
进一步改进,直流磁控溅射使用CrB2靶;射频磁控溅射使用C靶;步骤3)通入高纯氩气,腔体内的气压稳定在4.0~5.0×10-1Pa;直流磁控溅射功率50~150W;射频磁控溅射功率50~250W;基材负偏压是0V-100V;占空比为20%-80%;基材温度Rt-300℃;沉积时间为4h。
进一步改进,直流磁控溅射使用CrB2靶;射频磁控溅射使用C靶;步骤3)通入高纯氩气和乙炔混合气体,腔体内的气压稳定在4.0~5.0×10-1Pa;直流磁控溅射功率50~150W;射频磁控溅射功率50~250W;基材负偏压是0V-100V;占空比为20%-80%;基材温度Rt-300℃;沉积时间为3h。
进一步改进,直流磁控溅射使用Cr靶;射频磁控溅射使用B靶;步骤3)通入高纯氩气和乙炔混合气体,腔体内的气压稳定在4.0~5.0×10-1Pa;基材负偏压是0V-100V;占空比为20%-80%;基材温度Rt-300℃;沉积时间为3h。
本发明的有益效果体现在:
1) 可以在室温下沉积薄膜,大大降低了对基材选择的限制;
2) Cr-B-C中金属Cr、非金属B和C的含量可以通过直流和射频磁控溅射靶功率进行调节;
3) 制备工艺简单,操作能动性好。
附图说明
图1 是采用本发明工艺实施例1制备的Cr-B-C纳米复合薄膜的粘附力;
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