[发明专利]一种芯片器件及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其是涉及一种芯片器件及其测试方法。

背景技术

在现有技术中，芯片器件中通常包括多个模块，每个模块在输入或者输出模拟信号时，使用的是差分信号。因此，每一个模块需要占用芯片器件的两个引脚，用于输入或输出差分信号。显然，若一个芯片器件具有ｎ个模块，则ｎ个模块就会占用至少2ｎ个引脚。可见，现有技术中芯片器件的各个模块占用的引脚数量较多，从而造成了宝贵的引脚资源的浪费。

发明内容

本发明解决的技术问题在于提供一种芯片器件及其测试方法，实现减少模块占用芯片器件的引脚数量，从而节省宝贵的引脚资源。

为此，本发明解决技术问题的技术方案是：

本发明提供了一种芯片器件，所述芯片器件内置有ｎ个模块和ｎ个单端与差分转换电路，每个所述模块分别对应一个所述单端与差分转换电路，每个所述模块连接与该模块对应的单端与差分转换电路的差分端口，各个单端与差分转换电路的单端端口分别连接所述芯片器件的引脚；其中，所述ｎ为大于或等于1的自然数。

优选地，所述芯片器件还内置有ｍ个开关电路，ｍ个所述单端与差分转换电路的单端端口分别通过所述ｍ个开关电路连接到所述芯片器件的引脚；该连接开关电路的各个引脚中，每个引脚至少连接有两个所述开关电路；其中，所述ｍ为小于或等于ｎ的自然数。

优选地，所述ｍ等于ｎ，所述ｎ个单端与差分转换电路的单端端口分别通过ｎ个所述开关电路连接到所述芯片器件的同一引脚。

优选地，所述芯片器件还设置有控制引脚，所述控制引脚接收到的控制信号用于控制所述开关电路的导通与闭合。

优选地，任一个所述开关电路包括第一ＮＭＯＳ管和第一ＰＭＯＳ管；

所述第一ＮＭＯＳ管的漏极和所述第一ＰＭＯＳ管的漏极相连，作为该开关电路的输入端口；所述第一ＮＭＯＳ管的源极和所述第一ＰＭＯＳ的源极相连，作为该开关电路的输出端口；

若该开关电路连接的单端与差分转换电路的单端端口为该单端与差分转换电路的输出端口时，该开关电路的输入端口连接该单端端口；若该开关电路连接的单端与差分转换电路的单端端口为该单端与差分转换电路的输入端口时，该开关电路的输出端口连接该单端端口。

优选地，所述单端与差分转换电路为单端转差分电路或者差分转单端电路。

优选地，任一个所述差分转单端电路包括：第二ＰＭＯＳ管、第三ＰＭＯＳ管、第四ＰＭＯＳ管、第五ＰＭＯＳ管、第六ＰＭＯＳ管、第七ＰＭＯＳ管、第二ＮＭＯＳ管、第三ＮＭＯＳ管、第四ＮＭＯＳ管、第五ＮＭＯＳ管和第一电阻；

第二ＰＭＯＳ管的源极、第三ＰＭＯＳ管的源极、第四ＰＭＯＳ管的源极以及第五ＰＭＯＳ管的源极连接到电源电压，第二ＰＭＯＳ管的栅极和第二ＮＭＯＳ管的栅极连接到该差分转单端电路的开启电压，第二ＰＭＯＳ管的漏极、第三ＰＭＯＳ管的漏极和栅极、第四ＰＭＯＳ管的栅极、第五ＰＭＯＳ管的栅极和第二ＮＭＯＳ管的漏极连接到偏置电压，第四ＰＭＯＳ管的漏极连接第六ＰＭＯＳ管的源极和第七ＰＭＯＳ管的源极，第六ＰＭＯＳ管的漏极连接第三ＮＭＯＳ管的漏极和栅极、以及第四ＮＭＯＳ管的栅极，第七ＰＭＯＳ管的漏极连接第四ＮＭＯＳ管的漏极和第五ＮＭＯＳ管的栅极，第五ＮＭＯＳ管的栅极通过第一电阻连接第五ＮＭＯＳ管的漏极和第五ＰＭＯＳ管的漏极，第五ＮＭＯＳ管的源极、第四ＮＭＯＳ管的源极、第三ＮＭＯＳ管的源极、第二ＮＭＯＳ管的源极连接到地电压，所述第五ＰＭＯＳ管的漏极作为该差分转单端电路的输出端口，第六ＰＭＯＳ管的栅极和第七ＰＭＯＳ管的栅极作为该差分转单端电路的输入端口。

优选地，任一个所述单端转差分电路包括：第八ＰＭＯＳ管、第九ＰＭＯＳ管、第十ＰＭＯＳ管、第十一ＰＭＯＳ管、第十二ＰＭＯＳ管、第六ＮＭＯＳ管、第七ＮＭＯＳ管、第八ＮＭＯＳ管、第九ＮＭＯＳ管、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻和电容；