[发明专利]一种检测设备及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测设备及检测方法。

背景技术

TFT液晶显示器件具有亮度好、对比度高、层次感强、颜色鲜艳、功耗低、寿命长的特点，已成为新世纪显示器的主流产品。

在液晶显示器件生产过程中不可避免的会存在由于静电、灰尘、工艺缺陷等问题造成的不良，为了提高液晶显示器件的良品率、减少由于以上问题导致的损失，我们需要使用检测设备对液晶显示器件进行光学检测。

现有技术中，在对液晶显示器件进行光学检测时，检测过程中的接触检测是光学检测过程中最大的技术瓶颈，往往由于硬件机械结构（PCS）的限制，PCS系统中的ROBOT每次切换尺寸（Mode Change）时取送PA（probe assembly）的过程会出现误差累积，导致ROBOT将PA放到PB（Probe Bar）上的位置会出现偏差，引起接触检测过程接触不良，不能及时地完成接触检测，降低了生产效率。

发明内容

本发明提供了一种用于液晶显示器件的检测设备及检测方法，以提高探针总成中的探针与其对应的接触层之间接触的准确性，提高生产效率。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种检测设备，包括：

探针总成Probe Assembly，每一个探针总成上具有用于与被检测器件的检测接触层接触、且加载检测信号的探针Pin；

装载所述探针的探针总成载台；

采集单元，用于采集所述检测接触层的位置信息；

与所述采集单元信号连接的信号处理单元，当所述信号处理单元根据所述采集单元采集的位置信息判断该采集单元对应的探针总成中的探针与对应检测接触层之间对位不准时生成调节信息。

上述检测设备在对被检测器件如液晶显示器件进行阵列检测时，首先将各探针总成装载在探针总成载台上，以一个探针总成以及与该探针总成对应的采集单元为例，在进行该探针总成的探针与对应的检测接触层接触之前，通过采集单元采集与该探针总成对应的检测接触层的位置信息，并将采集的位置信息传输给信号处理单元，信号处理单元根据采集单元采集的位置信息判断该探针总成的探针与对应的检测接触层之间是否对位准确，当判断结果为该探针总成的探针与对应的检测接触层之间对位准确时，可以进行该探针总成的探针与检测接触层接触的工序，若判断结果为该探针总成的探针与对应的检测接触层之间对位不准时，信号处理单元生成调节信息，根据调节信息调节该探针总成在探针总成载台上的装载位置，使该探针总成的探针与对应的检测接触层之间对位准确，然后再进行该探针总成的探针与对应的检测接触层之间接触的工序。

因此，上述检测设备在接触检测过程中，探针总成的探针与检测接触层接触时，每一个探针总成的探针与对应的检测接触层之间的接触良好，能够很好地完成接触检测，提高生产效率。

优选地，为了提高上述检测设备中对探针总成与探针总成载台之间拆装以及调节的自动性，上述检测设备还包括：

与所述信号处理单元信号连接的机械手装置，所述机械手装置根据所述信号处理单元生成的调节信息调整所述探针总成在所述探针总成载台上装载位置，使探针总成的探针与对应的检测接触层之间对位准确。

优选地，每一个所述采集单元包括两个同时具有发射和接收红外光线功能的光感传感器。由于液晶显示器件上检测接触层的材料与其周边结构的材料不同，且颜色也不相同，通过光感传感器接收到的红外光的波长以及颜色感应能够对检测接触层与其周边结构进行区别，进而能够确定检测接触层的位置信息。

优选地，每一个所述采集单元具有的两个光感传感器安装于与所述采集单元对应的探针总成，且其中一个光感传感器位于所述探针总成中探针的一侧，另一个所述光感传感器安位于所述探针的另一侧。

优选地，每一个所述采集单元具有的两个光感传感器安装于所述探针总成载台。

本发明还提供了一种液晶显示器件的检测方法，包括：

将各探针总成装载在探针总成载台上；

通过采集单元采集与该采集单元对应的探针总成中的探针需要接触的检测接触层的位置信息；

通过信号处理单元根据采集单元采集的位置信息判断所述探针总成的探针是否与其对应的检测接触层对位准确，若对位不准，则产生调节信息；

根据所述调节信息调节所述探针总成在探针总成载台上的装载位置，使所述探针总成的探针与对应的检测接触层对位准确；

控制探针总成载台动作，使探针总成的探针与其对应的检测接触层接触，并加载检测信号。