[发明专利]一种红外热像仪校验方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种红外热像仪校验方法。

背景技术

红外热像仪还可以用来探测电气设备的不良接触，以及过热的部件，以免引起严重短路和火灾。

统计数据表明，在所有电气设备常见缺陷中的25％以上具有发热的特点，往往是由于接触不良引发。对于所有可以直接看见的设备，红外热成像产品都能够确定所有连接点的热隐患。对于那些由于屏蔽而无法直接看到的部分，则可以根据其热量传导到外面的部件上的情况，来发现其热隐患。红外热成像产品还可以很容易地探测到回路过载或三相负载的不平衡。若不采用红外热像技术，只能通过解体检查和清洁接头来发现设备接触不良和过热，效率低。当然，对于断路器、导体、母线及其它部件的常规试验而言，红外热成像产品是无法取代的。

但是红外热像仪由于涉及较多的敏感元器件，因此需要对其进行定期的检测校验以便保证其能够正常工作，但是目前缺少一种方便快捷，且较为规范的校验方法。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种红外热像仪校验方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种红外热像仪校验方法，包括以下步骤：

1)将红外热像仪安装在校验工作台中，对准标准黑体中心，使其同轴设置，进行多次测温，根据测温结果计算基本误差；

2)调节标准黑体的设定温差，使得目标图像占全视场1／10以上，分别测量电平信号及噪声电压，计算噪声等效温差；

3)将红外热像仪的画面分割成多个区域，单独测量各个区域的温度并进行对比，以检测其温度一致性；

4)将红外热像仪置于预定的工作距离处，以一定周期连续读取该红外热像仪的测量值，持续一段时间，以检测其连续工作性能。

所述的标准黑体为腔式黑体。

步骤1)中基本误差的计算公式为：

t=t1-t2

式中，t为基本误差，t1为标准黑体温度的平均值，t2为多次测温读数的平均值。

步骤2)中噪声等效温差的计算公式为：

NETD=ΔT／(S／N)

式中，NETD为噪声等效温差，TΔ为标准黑体的设定温差，S为电平信号，N为噪声电压的均方根。

步骤3)中，将画面以井字形分割成9个区域，每个区域均与位于中央的第五区域进行比较，根据温差计算温度一致性。

步骤4)中每10分钟读取红外热像仪的测量值，持续2个小时。

与现有技术相比，本发明依次对红外热像仪的基本误差、噪声等效温差、测温一致性以及连续稳定工作时间进行校验，结合辐射体的温度作为参考，从而快速判断红外热像仪内的敏感元器件是否合格，校验快捷且较为规范。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。

实施例

一种红外热像仪校验方法，包括以下步骤：

第一步，基本误差校验。

将红外热像仪安装在校验工作台中，对准标准黑体中心，使其同轴设置，进行多次测温，根据测温结果计算基本误差，具体计算公式为：

t=t1-t2

式中，t为基本误差，t1为标准黑体温度的平均值，t2为多次测温读数的平均值。

第二步，噪声等效温差校验。

调节标准黑体的设定温差，使得目标图像占全视场1／10以上，分别测量电平信号及噪声电压，计算噪声等效温差，具体计算公式为：

NETD=ΔT／(S／N)

式中，NETD为噪声等效温差，TΔ为标准黑体的设定温差，S为电平信号，N为噪声电压的均方根。

第三步，测温一致性校验。

将红外热像仪的画面以井字形分割成9个区域，单独测量各个区域的温度，然后将每个区域的温度与位于中央的第五区域进行比较，根据温差计算温度一致性。

第四步，连续稳定工作性能校验。

将红外热像仪置于预定的工作距离处，每10分钟读取红外热像仪测量值，持续2个小时，以检测其连续工作性能。

本发明能够依次对红外热像仪的基本误差、噪声等效温差、测温一致性以及连续稳定工作时间进行校验，结合辐射体的温度作为参考，从而快速判断红外热像仪内的敏感元器件是否合格，校验快捷且较为规范。