[发明专利]并行扫描激光预处理装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310385524.2 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN103434149A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 马平;郑轶;刘志超;浦云体;王刚 申请(专利权)人: 成都精密光学工程研究中心
主分类号: B29C71/04 分类号: B29C71/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 并行 扫描 激光 预处理 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种并行扫描激光预处理装置,包括沿激光传输方向设置的激光光源(1)、机械快门(2)、能量衰减器(3)、光束汇聚系统(4)、分光劈板(5)和合束镜(13),还包括光束轮廓仪(6)、激光能量计(7)、信标光源(8)和电动位移台(12);光学元件(11)置于电动位移台(12)上;其特征在于,装置与光学元件(11)之间设有倾斜镜阵列(9),光学元件(11)前设置有检测相机(10)。

2.根据权利要求1所述的光学元件激光预处理装置,其特征在于,所述的激光光源(1)为调Q式固体激光器。

3.根据权利要求1所述的光学元件激光预处理装置,其特征在于,所述的信标光源(8)为氦氖激光器。

4.根据权利要求1所述的光学元件激光预处理装置,其特征在于,所述的倾斜镜阵列(9)的镜面为镀有高反射薄膜的凹面镜。

5.根据权利要求1所述的光学元件激光预处理装置,其特征在于,所述的倾斜镜阵列(9)的角度控制由压电陶瓷驱动。

6.根据权利要求1所述的光学元件激光预处理装置,其特征在于,所述的检测相机(10)为CCD视觉检测相机。

7.一种并行扫描激光预处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

   A.精确调节倾斜镜阵列(9)的俯仰角,控制各光斑在光学元件(11)反射表面上的位置坐标,以此将各光斑排列成规则分布的组束;组束作为整体以并行方式对光学元件(11)进行并行扫描;组束尺寸与检测相机(10)的视场范围相匹配;

   B.由能量计(7)和光束轮廓仪(6)测量脉冲能量和有效面积;

   C.根据组束尺寸和激光重复频率,由电动位移台(12)调整光学元件(11)的位移速度;

   D.根据检测相机(10)检测的损伤坐标,计算光学元件(11)的辐照盲区,并记录;

   E.并行扫描完毕后,采用单光斑方式对光学元件(11)的辐照盲区逐一进行填充。

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