[发明专利]地基光学测量设备深空背景下稳定提取弱小目标的方法无效
| 申请号： | 201310384666.7 | 申请日： | 2013-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN103489180A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 王明佳;武治国;刘伟宁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/50 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 地基 光学 测量 设备 背景 稳定 提取 弱小 目标 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种地基光学测量设备深空背景下稳定提取弱小目标的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤i：选中目标，确定波门位置；
步骤ii：计算累加区域Si，移动区域Si的位置；
步骤iii：判断是否完成，未完成则转到步骤ii；完成则继续以下步骤；
步骤iv：计算区域Si中最大值出现位置p点，以该p点位置为目标位置。
2.根据权利要求1所述的地基光学测量设备深空背景下稳定提取弱小目标的方法，其特征在于，所述区域Si为5×5的区域。
3.根据权利要求1所述的地基光学测量设备深空背景下稳定提取弱小目标的方法，其特征在于，所述区域Si的位置是按照由上至下，由左至右的顺序进行移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310384666.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
