[发明专利]面板测试用玻璃碰撞型探头块结构

说明书

技术领域

本发明涉及面板测试用玻璃碰撞型探头块结构，更详细地涉及构成探头单元（probe unit），从而改善接触检查对象体的头块（Head Block）的组装结构，进而解决现有单元结构中出现的问题，可更为稳定地进行检查。

背景技术

一般使用探头装臵来检查平板显示器面板是否不良，上述探头装臵使用了叶片（blade）型、针（needle）型、弹簧（pogo）型和利用半导体微机电系统（MEMS）工程技术的微机电系统（MEMS）型等种类多样的探头单元。

探头单元指在薄膜场效应晶体管LCD（TFT-LCD，Thin Film Transistor LCD）、等离子显示板（PDP，Plasma Display Panel）、场发射显示器（FED，Field emission display）等平板显示器（FPD，Flat Panel Display）的蜂窝（面板）（Cell(panel)）工艺的最终检查步骤中，附着在蜂窝探头（Cell-Prober）上，同时接触面板（Panel）上的数据/门线路（Data/Gate Line）的所有电极，从而进行视觉检查（Visual Inspection）的检查装臵。

换句话说,面板同时加载视频信号和电源，对面板上的导线开/合（Line on/off），以及各种斑点、异物等面板制造工艺中所产生的所有不良进行最终检查的装臵。

同时，探头单元一般大致有以下构成：探头块，其为向位于液晶显示器边缘的多个电极加载试验信号的探针（Probe Pin）的集合体；信号发生器(Pattern Generator)，其与探头块连接生成电子信号；源/门（Source/Gate）PCB部件，其将信号发生器划分为X、Y线，传送至上述TAB IC。

上述液晶显示器面板的画质逐渐提高，并且这意味着每单位面积需要高密度像素显示，为了测试上述像素，作为被驱动部位的LCD面板和驱动（Drive）IC（TAB IC）间连接有高密度接触介质，上述接触介质也就是探头单元(probe unit)的头块（Head Block）。

图1至图3是根据现有技术的测试用探头单元和头块的示意图。图1是普通面板测试用探头单元的立体图，图2是面板测试用玻璃碰撞型探头块结构的分解立体图，图3是图2的侧面图。

探头单元1的前端结合有与检查对象体接触的头块10，并且上述头块10的结构包括：软性印刷电路板(FPCB)16，其用于传送电子信号；驱动IC15，其与上述软性印刷电路板(FPCB)16连接；Ni碰撞型微机电系统（MEMS）玻璃块13，其为了实质性地接触检查对象体，并且加载电子信号，导电图通过微机电系统（MEMS）工艺形成于玻璃（Glass）上；以及，缓冲部件12，其用于单元驱动时吸收上述玻璃块的物理冲击。

图2是头块的分解立体图，为了将Ni碰撞型微机电系统（MEMS）玻璃块和驱动IC、软性印刷电路板(FPCB)进行连接，必须考虑连接电极的前后方向，将软性印刷电路板(FPCB)的末端面向内侧面卷曲，从而与驱动IC连接。

上述现有结构的探头单元的头块在探头单元为了检查而接近检查对象体时，可具有12度左右的倾斜度进入，但是因软性印刷电路板(FPCB)的卷曲部位而要避免接触干扰，头块（Head Block）必须倾斜接近。此时，当玻璃块接触到LCD面板的电极时，接触面积变小，接触压力升高，从而确保电子连接的稳定性。

但其问题在于，当接触压力变大时，面板可能出现擦伤或粒子(particle)水平的受损，并且因此探头单元的测定速度不得不受到限制，结果也会严重影响测定速度。

发明内容

由此，本发明的目的在于，提供一种探头单元用头块，其改善构成于探头单元的头块(Head Block)的组装结构，从而实现更稳定的显示器面板检查，由此提高检查速度。

并且，目的在于，提供一种改良型探头单元的头块，其通过结构改善，能够确保检查稳定性的同时，提高玻璃部件块的生产收率。