[发明专利]Walk-away VSP观测系统垂向覆盖次数的计算方法

权利要求书

1.一种Walk-away VSP观测系统垂向覆盖次数的计算方法，包括：在平面内加载井轨迹数据，在过井口位置沿二维VSP测线方向绘制一条剖面线以将平面数据切成剖面，剖面上仅有井轨迹显示；

在切出的剖面内，布设Walk-away VSP观测系统并且确定所有炮检对关系；

按预定间隔划分网格；

计算所有炮检对的反射点位置并确定反射点轨迹；

将划分成的网格里面的反射点进行叠加，统计垂向网格内的覆盖次数；

提取目的层覆盖次数并进行均匀性分析。

2.如权利要求1所述的计算方法，其中，所述平面为（x,y）平面直角坐标系平面，其中，x表示东坐标，y表示北坐标，并且根据两点的平面坐标来确定剖面端点位置。

3.如权利要求2所述的计算方法，其中，所述切出的空间为（x,h）空间，预定间隔为（⊿x,⊿h），其中，x表示东坐标，h表示深度，⊿x表示偏移距，⊿h表示深度，所述网格为偏移距-深度网格。

4.如权利要求3所述的计算方法，其中，在布设的Walk-away VSP观测系统中定义了道移动间隔、炮移动间隔、移动方向三个参数，并且根据所述三个参数来确定所有炮检对关系。

5.如权利要求4所述的计算方法，其中，基于以下解析式来计算所有炮检对的反射点位置：

x-xwxs-xw=H-ZV2H-ZV]]>

其中，x为反射点的水平坐标，x_w为井口的水平坐标，x_s为激发点的水平坐标，H为反射层深度，Z_V为接收点深度。

6.如权利要求5所述的计算方法，其中，提取目的层覆盖次数并进行均匀性分析的步骤包括：

确定一个目的层深度，将覆盖次数值提取到某一目的层位的每个面元，计算选定层位上所有网格内覆盖次数的平均值，根据方差公式计算覆盖次数的均匀程度，并且将方差值作为覆盖次数的均匀性评价值。