[发明专利]液晶面板的亮点检测方法有效
| 申请号： | 201310378441.0 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN103454792A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 李佳;彭志龙;单庆增 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶面板 亮点 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种液晶面板的亮点检测方法，其特征在于，包括：
对液晶面板的栅线进行扫描，同时所述液晶面板的数据线输出低电平信号；
关闭所述液晶面板的栅线，同时所述数据线输出高电平信号。
2.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点检测方法，其特征在于，所述对液晶面板的栅线进行扫描，具体为：
对液晶面板的全部或部分栅线进行逐行扫描。
3.根据权利要求1或2所述的液晶面板的亮点检测方法，其特征在于：所述液晶面板为高级超维场转换液晶面板。
4.根据权利要求3所述的液晶面板的亮点检测方法，其特征在于：所述液晶面板的栅极驱动电路为阵列基板行驱动模式。
5.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点检测方法，其特征在于：所述低电平信号对应所述液晶面板的最低灰阶。
6.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点检测方法，其特征在于：所述高电平信号对应所述液晶面板的最高灰阶。
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