[发明专利]一种测试电路及测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路领域，具体涉及一种测试电路及测试装置。

背景技术

在发光二极管（Light Emitted Diode，LED）的光衰老化测试中，为了缩短测试周期，通常把被测LED灯放置在高温箱内，并将高温箱的温度设置到接近于LED结温的上限值。由于LED的光衰老化测试是一个长期通电测试过程，高温箱在长期工作过程中可能会出现温度过高，超过供应商规定的LED结温的上限值，从而导致测出的光衰数据差异较大，或被测LED烧毁。这有可能迫使已经进行了几个月甚至上年的光衰老化测试过程终止，并重新测试，增加测试周期，浪费人力和物力资源。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试电路及测试装置，能够在进行LED的长期光衰老化测试过程中避免高温箱温度过高，节省测试周期和人力物力。

本发明第一方面提供一种测试电路，包括发光二极管电路、过温检测电路、过温保护电路和交流直流转换电路，其中，

所述发光二极管电路包括控制开关、直流稳压电源和至少2个发光二极管，其中，所述至少2个发光二极管和所述控制开关串联连接在所述直流稳压电源的正极和负极之间；

所述过温检测电路检测每个所述发光二极管的温度，在至少一个所述发光二极管的温度超过温度阈值时在其输出端输出过温信号；

所述过温保护电路的驱动端接收到所述过温检测电路输出的所述过温信号时发出报警信号并输出控制信号控制所述发光二极管电路中的所述控制开关断开；

所述交流直流转换电路的输入端连接至市电电源，将市电交流电转换为直流电从其输出端输出，所述交流直流转换电路的输出端连接至所述过温检测电路和所述过温保护电路的电源端。

可选地，所述过温检测电路包括基准电压生成电路和与所述发光二极管的数量相适应的温度检测电路，其中，

所述基准电压生成电路包括第一分压电阻和稳压二极管，所述第一分压电阻的第一端连接至所述交流直流转换电路的输出端，所述第一分压电阻的第二端连接至所述稳压二极管的阴极，所述稳压二极管的阴极为所述基准电压生成电路的输出端输出基准电压，所述稳压二极管的阳极连接至接地点；

每个所述过温检测电路包括一个热敏电阻、一个第二分压电阻、一个集成运算放大器和一个第一二极管，所述热敏电阻的第一端连接至所述交流直流转换电路的输出端，所述热敏电阻的第二端连接至所述第二分压电阻的第一端和所述集成运算放大器的反相输入端，所述集成运算放大器的同相输入端连接至所述基准电压生成电路的输出端，所述集成运算放大器的输出端连接至所述第一二极管的阴极，每个所述温度检测电路的所述第一二极管的阳极连接到一起作为所述过温检测电路的输出端，所述第二分压电阻的第二端连接至接地点。

可选地，所述发光二极管电路的控制开关为继电器。

可选地，所述过温保护电路包括蜂鸣器和晶闸管，其中，

所述蜂鸣器的第一端连接至所述交流直流转换电路的输出端，所述蜂鸣器的第二端连接至所述晶闸管的阳极，所述晶闸管的阴极连接至所述发光二极管电路中的所述继电器的线圈的第一端，并且所述继电器的线圈的第二端连接至接地点，所述晶闸管的门极为所述过温保护电路的驱动端。

可选地，所述交流直流转换电路包括变压器、整流桥和三端稳压芯片，其中，

所述变压器原边线圈的两端分别连接至市电电源的火线和零线，所述变压器副边线圈的两端分别连接至整流桥的两个输入端，所述整流桥的正极输出端连接至所述三端稳压芯片的输出端，所述三端稳压芯片的输出端为所述交流直流转换电路的输出端，所述三端稳压芯片的接地点和所述整流桥的负极输出端连接至接地点。

可选地，所述交流直流转换电路还包括第一电容和第二电容，其中所述第一电容的第一端连接至所述三端稳压芯片的输入端，所述第二电容的第一端连接至所述三端稳压芯片的输出端，所述第一电容的第二端和所述第二电容的第二端连接至接地点。

可选地，所述过温保护电路还包括第二二极管，所述第二二极管的阴极连接至所述继电器的线圈的第二端，所述第二二极管的阳极连接至所述继电器的线圈的第一端。

可选地，所述发光二极管电路还包括限流电阻，所述限流电阻串联在所述至少2个发光二极管、所述控制开关和直流稳压电源构成的回路中。

本发明第二方面提供一种测试装置，其特征在于，包括高温箱、散热板和如本发明第一方面或第一方面的任一种可能实现方式所述的测试电路，其中：

所述测试电路中的所述至少2个发光二极管安装在所述散热板上，所述散热板放置在所述高温箱中。