[发明专利]一种非晶带材卷绕线速度测量系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种非晶带材卷绕线速度测量系统及方法，特别涉及一种非晶带材生产过程中非晶带材卷绕线速度测量系统及方法。

背景技术

现有的制备非晶带材的方法为：通过中频感应炉熔炼，倾倒入中间包，底注到喷带包中，钢液由喷嘴喷射到高速旋转的轮式结晶器上，瞬间凝固成厚度为25-30μm的薄带。通过抓取机进行在线卷取，通过分卷机将在线抓取的带卷进行重卷，通过合卷机最终将五层非晶带材合到一起，形成市场所需产品。在这个过程中，从抓取到合卷都离不开张力控制和定长停车，基于现有实际应用发现这两项都需要准确的线速度。张力控制主要有直接测量法和间接测量法，直接测量法在实际应用中抖动比较严重，引起张力频繁波动，导致张力不稳而很少使用。间接测量法主要是通过公式V=π*D*n推导，在此公式中，n为编码器反馈的当前转速、为高精度值，D为当前卷径，V为线速度，通过此公式能够准确测量V或D，但是非晶带材厚度在30μm左右，并且根据国标在长度方向上厚度偏差在平均厚度的±10%以内是合理的误差波动范围，所以对卷径测量装置精度要求很高，同时卷绕过程中带卷存在圆跳动，实际应用中卷径测量不准确，现有技术下也没有好的解决办法；市场需求的非晶带材为五层，要求在五层合卷后，单层没有剩余，如有剩余非晶带材，就是废品，浪费严重。定长停车是非晶带材生产的关键技术，现有长度测量的设备因测量范围小，不能被利用，因此根据公式L=Vt，只要测量出准确的线速度，就可以得到准确的长度。

现有的线速度测量方法在生产过程中很难准确测量线速度，且成本高。

发明内容

本发明目的在于提供一种非晶带材卷绕线速度测量系统及方法，以实现对非晶带材线速度的精确测量。

为此，在第一方面，本发明提供了一种非晶带材卷绕线速度测量系统，所述系统包括：电磁测速辊、测速编码器、触摸屏、PLC可编程控制器，磁力调节器，所述电磁测速辊为内部放置电磁铁的空心辊，所述电磁测速辊设置在芯轴支撑座上，所述电磁铁通过电磁吸附将非晶带材贴在电磁测速辊的辊面，通过静摩擦带动电磁测速辊旋转，连接在所述电磁测速辊的所述测速编码器向所述PLC可编程控制器反馈所述电磁测速辊的转速，所述PLC可编程控制器根据所述转速计算所述非晶带材的线速度。

优选的，所述PLC可编程控制器根据所述转速计算所述非晶带材的线速度，具体为：通过公式V=π*D*n计算，其中D为电磁测速辊的直径，n为所述测速编码器反馈的转速，V为所述非晶带材的线速度。

优选的，所述电磁测速辊位于放卷轴和收卷轴之间。

优选的，所述磁力调节器用于调整所述电磁测速辊的磁力大小，以保证所述非晶带材贴附在所述电磁测速辊的表面，没有相对滑动。

另一方面，本发明实施例提供了一种非晶带材卷绕线速度测量方法，所述方法包括：

通过电磁吸附将非晶带材贴在电磁测速辊的辊面；

通过静摩擦带动电磁测速辊旋转；

测速编码器向PLC可编程控制器反馈所述电磁测速辊的转速；

PLC可编程控制器根据所述转速计算所述非晶带材的线速度。

优选的，所述PLC可编程控制器根据所述转速计算所述非晶带材的线速度，具体为：

通过公式V=π*D*n计算，其中D为电磁测速辊的直径，n为所述测速编码器反馈的转速，V为所述非晶带材的线速度。

优选的，在所述通过电磁吸附将非晶带材贴在电磁测速辊的辊面，之前，还包括：

调节所述电磁测速辊的磁力大小，以保证所述非晶带材贴附在所述电磁测速辊的辊面，不产生相对滑动。

本方法的方法和装置提出了一种非晶带材卷绕线速度的测量方法和系统，通过电磁吸附将非晶带材贴在电磁测速辊的辊面，并且通过静摩擦带动电磁测速辊旋转，之后测速编码器向PLC可编程控制器反馈所述电磁测速辊的转速，最后通过所述转速计算所述非晶带材的线速度。是一种低成本、操作维护简单，并且能精确测量生产过程中非晶带材卷绕线速度的方法。

附图说明

图1是根据本发明实施例的一种非晶带材卷绕线速度测量系统的结构连接图；

图2是根据本发明实施例的一种非晶带材卷绕线速度测量系统的框图；

图3是根据本发明实施例的一种非晶带材卷绕线速度测量方法的流程图；

图4是本发明实施例的一种非晶带材卷绕线速度测量方法的软件流程图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。