[发明专利]基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法

权利要求书

1.一种基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪，用于对样品进行颜色测量；其特征在于，所述颜色测量仪包括：

光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置；

其中，所述拨片设置在光阱处，且拨片上涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；样品设置在积分球的下部开孔处；光谱仪设置在垂直于样品法线的-8°的位置处，且光谱仪连接所述用于进行数据处理的处理装置；光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处；

光源发出的光经过积分球后漫射到所述样品上，光谱仪接收由样品表面反射过来的反射光，拨片控制装置控制所述拨片开启或者关闭积分球上部开孔分别得到无光阱的SCI测量条件和有光阱的SCE测量条件；处理装置对光谱仪发送的信号进行数据处理而获得测量结果。

2.根据权利要求1所述的基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪，其特征在于，所述拨片控制装置为步进电机，所述处理装置为PC。

3.一种权利要求1所述的基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪的实现方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S1、光源发出的光经过积分球后漫射到所述样品上，光谱仪接收由样品表面反射过来的反射光；

S2、拨片控制装置控制所述拨片关闭积分球上部开孔分别得到无光阱的SCI测量条件，处理装置对光谱仪发送的信号进行数据处理而获得第一测量结果

S3、拨片控制装置控制所述拨片开启积分球上部开孔分别得到有光阱的SCE测量条件，处理装置对光谱仪发送的信号进行数据处理而获得第二测量结果

S4、计算样品的光泽值通过计算构建矫正值ΔI得到ΔI与光泽值成线性关系：

ΔI＝K₂·G_m+b₂，从而对不同光泽的样品进行修正；

其中，k₂为一阶拟合的比例系数，b₂为常数项。

4.根据权利要求3所述的基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪的实现方法，其特征在于，还包括步骤S4、建立了一种根据样品表面光泽数据对SCE测量条件下得到的测量数据进行修正的矫正模型：即由Model C测量结果经光泽G_m修正后计算Model A测量结果：

其中，Model A光阱尺寸与Model C不同的其它颜色测量仪器；为编号为n的被测样品在Model A结构下测量结果，为编号为n的被测样品在Model C结构下测量结果,k、k₂为比例系数，b、b₂为常数项。