[发明专利]灯具老化测试电路

说明书

技术领域

本发明属于灯具检测领域，尤其涉及一种灯具老化测试电路。

背景技术

为确保灯具在质量，寿命的保证，在灯具上市前需进行灯具的老化测试，测试分为很多种，包括基本测试项目如光电参数，包装跌落，盐雾测试这些必须的测试项目，另还需测试一些加速灯具老化，在极限条件下快速降低灯具寿命的测试。

一般地，灯具老化时间较长，如果让实验员在测试设备旁一直守候会使得工作效率低下；而现有的一些自动测试电路较为复杂，成本高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种简单、可靠的灯具老化测试电路，旨在解决现有的灯具老化测试手段效率低下，测试电路复杂、成本高的问题。

本发明是这样实现的，一种灯具老化测试电路，与放置于老化测试箱体中的待测试灯具连接，所述灯具老化测试电路包括温度保护器、定时器以及与所述待测试灯具并联并靠近所述待测试灯具的加热模块，所述待测试灯具的第一端经所述温度保护器与交流电源的正端连接，所述待测试灯具的第二端经所述定时器与所述交流电源的负端连接，所述温度保护器在所述老化测试箱体内的温度超过预设温度时断路，所述定时器在计时达到预设时间时断路。

上述灯具老化测试电路加入有预设保护温度的温度保护器，当老化测试箱体的温度达到预设温度时，温度保护器关断，断开灯具工作电压，从而对灯具进行有效保护，防止在极端环境下老化灯具；另外，又加入了定时器，使老化测试工作达到预设时间后自动关断，解决了需要实验员守候测试工作效率低下的问题，且电路结构简单，降低了生产成本。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的灯具老化测试电路的原理图；

图2是本发明第二实施例提供的灯具老化测试电路的原理图。

具体实施方式

为了使本发明要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，示出了一优选实施例提供的灯具老化测试电路，该灯具老化测试电路与放置于老化测试箱体200中的待测试灯具300连接，灯具老化测试电路包括温度保护器P1、定时器101以及加热模块102。其中，待测试灯具300的第一端经温度保护器P1与交流电源AC的正端连接，待测试灯具300的第二端经定时器101与交流电源AC的负端连接；加热模块102与待测试灯具300并联并靠近待测试灯具300的加热模块102。

温度保护器P1在老化测试箱体200内的温度超过预设温度时断路，即断开加热模块102和待测试灯具300的供电回路，可以防止老化加热温度继续升高，导致待测试灯具300在极端的环境下老化甚至毁坏灯具；定时器101在计时达到预设时间时断路，即断开加热模块102和待测试灯具300的供电回路，

需要说明的是，在本实施例中，上述交流电源AC的正端为火线端，交流电源AC的负端为零线端。

优选地，加热模块102包括整流器件、发热器件以及第一电阻R1，整流器件、发热器件以及第一电阻R1串联后与待测试灯具300并联。

在一个实施例中，整流器件为整流二极管D1，整流二极管D1的阳极与待测试灯具300的第一端连接、阴极经发热器件和第一电阻R1与待测试灯具300的第二端连接。在其他实施方式中，整流器还可以是整流桥，那么，该整流桥的两个输入端分别与交流电源AC的正端、负端连接，共阳极输出端接地，共阴极输出端与发热器件的输入端连接。

在一个实施例中，发热器件为大功率发光二极管D2，大功率发光二极管D2的阳极经整流器件与待测试灯具300的第一端连接、阴极经第一电阻R1与待测试灯具300的第二端连接。在其他实施方式中，发热器件可以为电热偶或电热堆。

具体地，温度保护器P1设置于老化测试箱体200内，能有利于对该箱体内的温度测试；定时器101设置于老化测试箱体200外，避免老化测试箱体200对定时器101造成损坏。

进一步地，灯具老化测试电路还包括熔断器F1，该熔断器F1连接在温度保护器P1与交流电源AC的正端之间。熔断器F1对电路进行过流保护。

更进一步地，灯具老化测试电路还包括电感器L1，电感器L1连接在熔断器与温度保护器P1之间。设置电感器F1对灯具老化测试电路进行过压保护。