[发明专利]一种变偏移距VSP资料时差校正方法有效
申请号: | 201310364783.7 | 申请日: | 2013-08-20 |
公开(公告)号: | CN104422963B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 张卫红;王跃;高志凌 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
主分类号: | G01V1/48 | 分类号: | G01V1/48 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所11218 | 代理人: | 郭韫 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 偏移 vsp 资料 时差 校正 方法 | ||
技术领域
本发明属于地震资料处理领域,具体涉及一种变偏移距VSP资料时差校正方法。
背景技术
实际非零偏移距VSP观测受限于井中接收检波器级数,VSP观测需要多次提升检波器并以群炮激发方式完成整个井段观测。以炸药震源、多井群炮方式激发得到多个(变)偏移距VSP资料,波场时差校正主要涉及两个方面:①单偏移距内:由于群炮激发井深、激发岩性、激发井高程及激发井偏移距变化等因素影响,接收波场各深度点存在时差;②不同偏移距间:随偏移距的变化,地表激发高程、浅层激发岩性环境等因素变化较大,不同偏移距间波场存在时差。由于地质类和非地质类等诸多因素影响,对变偏移距VSP资料不进行时差校正或者时差校正精度不足,都使得原始波场信息不同程度的失真,影响后续对变偏移距VSP波场中反射波、转换波等信息的有效利用,影响查明井周构造细节及储层问题的可靠性。
发明内容
本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的难题,提供一种变偏移距VSP资料时差校正方法,提高原始波场质量,为变偏移距VSP资料后续处理、有效解释应用提供准确的基础资料。
本发明是通过以下技术方案实现的:
一种变偏移距VSP资料时差校正方法,包括:
(1)解编采集到的原始变偏移距VSP资料,得到三分量波场数据;
(2)输入VSP观测井所在区域地面地震资料处理所用的浅层替换速度V替换和地震处理基准面高程Z基准面;
(3)在各偏移距垂直分量(Z)上分别拾取直达波初至时间得到时间-深度数据T0(n,Lk);
(4)计算单一偏移距内时差;
(5)计算变偏移距间时差;
(6)总时差校正:计算变偏移距各观测接收深度点的累计时差,并将得到的累计时差值校正到相应偏移距的接收深度点的初至时间上,得到经过时差校正后的变偏移距VSP三分量资料;
(7)校正误差分析:
在所述经过时差校正后的变偏移距VSP三分量资料上,抽取任一共深度点的垂直分量道集,判断直达波的初至时间曲线随偏移距的变化是否符合时差变化规律,如果是,则进入步骤(8),如果否,则检查并重新输入误差点所在偏移距的激发炮井的高程、井深、坐标数据这三个数据,然后返回步骤(4);
(8)结束。
所述步骤(1)中的所述三分量波场数据包括VSP井坐标(xw,yw,zw)、井台高hw、各偏移距激发炮点坐标和激发井深为这四个数据。
所述步骤(4)是这样实现的:
首先,选定激发炮群的中心点,以该中心点的井口高程为该偏移距的统一高程面;然后,将炮群内的激发炮点校正到激发中心点的井口高程面;
分别计算出激发炮点(i)到达相应接收点(ki)直达波的旅程D1及激发中心点的井口高程面到达相应接收点(ki)直达波的旅程D2,再计算出旅程差D1-D2,进一步计算出波到达同一接收点的旅程差产生的时差
其中,
xw,yw,zw为观测井井口地面坐标,hw为井台高;为第n个偏移距,第i个激发炮点的坐标,为激发井深;为激发炮群中心点的井口坐标。
井中观测深度点:以井口为0开始起算的电缆长度,计为Lk(k=1,……N),N为VSP观测设计的最大观测点,井中各观测深度点的坐标可计为(xk,yk,Lk-hw)。
n为偏移距序列,为第n个偏移距,第i个激发炮点到达相应接收深度点(ki)直达波的旅程,为第n个偏移距激发中心点井口平面到达相应接收深度点(ki)直达波的旅程;
当观测井为直井时,各观测深度点xk=xw,yk=yw;当观测井为斜井时,各观测深度点的xk,yk通过井斜数据计算得到。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院,未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310364783.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学设备和光学设备的控制方法
- 下一篇:一种可控震源动态滑动扫描激发方法