[发明专利]电路测试系统

权利要求书

1.一种电路测试系统，包括测试设备，其特征在于：所述电路测试系统还包括微控制器及开关组合，所述开关组合包括连接所述测试设备的第一开关、第二开关，所述第一开关与所述第二开关均连接所述微控制器，所述第一开关用于连接测试电路，所述第二开关用于连接另一测试电路，所述微控制器用于在接收到一触发信号后开启所述第一开关从而使来自所述测试电路的测试信号传送给所述测试设备，并在一设定时间后断开所述第一开关而开启所述第二开关以使来自所述另一测试电路的测试信号传送给所述测试设备。

2.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述第一开关包括导通端、第一连接端及第二连接端，所述微控制器连接所述第一开关的导通端，所述第一开关的第一连接端连接所述测试电路，所述第一开关的第二连接端连接所述测试设备，所述第一开关的导通端用于在所述微控制器接收所述触发信号后导通，所述第一开关的第二连接端在所述第一开关的导通端导通后将所述测试信号传送至所述测试设备。

3.如权利要求2所述的电路测试系统，其特征在于：所述第一开关为N沟道增强型MOSFET，所述第一开关的导通端、第一连接端及第二连接端分别对应所述N沟道增强型MOSFET的栅极、源极及漏极。

4.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述第二开关包括导通端、第一连接端及第二连接端，所述微控制器连接所述第二开关的导通端，所述第二开关的第一连接端连接所述测试电路，所述第二开关的第二连接端连接所述测试设备，所述第二开关的导通端用于在所述微控制器断开所述第一开关并开启所述第二开关后导通，所述第二开关的第二连接端用于在所述第二开关的导通端导通后将所述另一测试电路的测试信号传送至所述测试设备。

5.如权利要求4所述的电路测试系统，其特征在于：所述第二开关为N沟道增强型MOSFET，所述第二开关的导通端、第一连接端及第二连接端分别对应所述N沟道增强型MOSFET的栅极、源极及漏极。

6.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述微控制器还连接比较电路，所述比较电路用于产生所述触发信号。

7.如权利要求6所述的电路测试系统，其特征在于：所述微控制器用于连接所述比较电路的比较器的输出端，所述比较器的反向输入端用于通过第一电阻连接所述比较电路的第一电源，所述比较器的正向输入端用于通过第二电阻连接所述比较电路的第二电源，所述微控制器用于在所述第二电源的电压大于所述第一电源的电压时接收所述触发信号。

8.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述微控制器包括晶振输入或外部时钟输入引脚及晶振输出引脚，所述微控制器还的晶振输入或外部时钟输入引脚及晶振输出引脚之间连接晶体振荡器，所述晶体振荡器用于为所述微控制器产生时钟频率。

9.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述微控制器包括外部程序存储器使能引脚，所述微控制器的外部程序存储器使能引脚连接电源。

10.如权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于：所述微控制器为89C51系列单片机。