[发明专利]存储器控制设备、非易失性存储器及存储器控制方法在审

专利信息
申请号: 201310359855.9 申请日: 2013-08-16
公开(公告)号: CN103632732A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 足立直大;筒井敬一;石井健;大久保英明;中西健一;藤波靖;新桥龙男;阪井塁;池谷亮志 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C16/34
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储器 控制 设备 非易失性存储器 方法
【权利要求书】:

1.一种存储控制设备,所述存储控制设备包括:

写入控制单元,按顺序地指定多个存储单元中作为数据写入单元的存储块;

写入处理单元,将写入数据写入指定的所述存储块中;

检验单元,从写入了所述写入数据的所述存储块中读出读取数据,并且针对所述多个存储单元中的每一个检验所述读取数据是否与所述写入数据一致;

重试阻止单元,阻止对所述多个存储单元中所述读取数据与所述写入数据一致的存储单元再次执行写入所述写入数据的重试处理;以及

重试控制单元,当写入所有写入数据的所述多个存储单元中的任一存储单元中所述读取数据与所述写入数据不一致时,指定多个所述存储块中的至少一些存储块,并且同时执行所述重试处理。

2.根据权利要求1所述的存储控制设备,其中,

所述检验单元检验所述读取数据是否与所述写入数据一致,并且对所述读取数据与所述写入数据不一致的存储单元的数量进行计数以作为故障位数,以及

当所述故障位数大于1且所述故障位数小于预定阈值时,所述重试控制单元指定多个所述存储块中的至少一些存储块并且同时执行所述重试处理。

3.根据权利要求2所述的存储控制设备,其中,

当所述故障位数不小于所述预定阈值时,所述重试控制单元按顺序地为每个所述存储块指定所述多个存储单元并执行所述重试处理。

4.根据权利要求2所述的存储控制设备,其中,

所述预定阈值是不超过允许所述写入处理单元同时写入所述写入数据的存储单元的数量的值。

5.根据权利要求1所述的存储控制设备,其中,

所述写入处理单元向指定的所述存储块中的每个存储单元提供所述写入数据并写入所述写入数据,以及

所述重试阻止单元阻止向所述读取数据与所述写入数据一致的存储单元提供所述数据并阻止所述重试处理的执行。

6.根据权利要求1所述的存储控制设备,其中,

当写入所有写入数据的所述多个存储单元的任一存储单元中所述读取数据与所述写入数据不一致时,所述重试控制单元指定所有多个所述存储块并同时执行所述重试处理。

7.一种非易失性存储器,所述非易失性存储器包括:

多个存储单元;

写入控制单元,按顺序地指定所述多个存储单元中作为数据写入单元的存储块;

写入处理单元,将写入数据写入指定的所述存储块中;

检验单元,从写入了所述写入数据的所述存储块中读出读取数据,并且针对所述多个存储单元中的每一个检验所述读取数据是否与所述写入数据一致;

重试阻止单元,阻止对所述多个存储单元中所述读取数据与所述写入数据不一致的存储单元再次执行写入所述写入数据的重试处理;以及

重试控制单元,当写入所有写入数据的所述多个存储单元中的任一存储单元中所述读取数据与所述写入数据不一致时,指定多个所述存储块中的至少一些存储块,并且同时执行所述重试处理。

8.根据权利要求7所述的非易失性存储器,其中,

所述检验单元检验所述读取数据是否与所述写入数据一致,并且对所述读取数据与所述写入数据不一致的存储单元的数量进行计数以作为故障位数,以及

当所述故障位数大于1且所述故障位数小于预定阈值时,所述重试控制单元指定多个所述存储块中的至少一些存储块并且同时执行所述重试处理。

9.一种存储控制方法,所述存储控制方法包括

由写入控制单元按顺序地指定多个存储单元中作为数据写入单元的存储块;

由写入处理单元将写入数据写入指定的所述存储块中;

由检验单元从写入了所述写入数据的所述存储块中读出读取数据,并且针对所述多个存储单元中的每一个检验所述读取数据是否与所述写入数据一致;

由重试阻止单元阻止对所述多个存储单元中所述读取数据与所述写入数据一致的存储单元再次执行写入所述写入数据的重试处理;以及

当写入所有写入数据的所述多个存储单元的任一存储单元中所述读取数据与所述写入数据不一致时,由重试控制单元指定多个所述存储块中的至少一些存储块,并且同时执行所述重试处理。

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