[发明专利]基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法有效
申请号: | 201310357352.8 | 申请日: | 2013-08-16 |
公开(公告)号: | CN103439348A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 张敏;鲁华祥;来疆亮;边昳;龚国良;徐露露 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 差影法 遥控器 按键 缺陷 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,特别是一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法。
背景技术
遥控器与我们的生活息息相关,在遥控器的实际生产中,按键上的字符是通过丝网印刷,人工检测缺陷的。在丝网印刷过程中,会出现字符颜色印刷错误,字符内容印错,部分字符模糊不清,漏印,有污迹等印刷缺陷,而且大多数情况下,会批量出现这种错误,对于保证产品质量是非常不利的。尽管人眼识别率很高,但是人有疲倦期,而且多人检测,也难以统一检测标准。这些都不利于保证产品的合格率。
近年来,图像处理在智能交通,人脸识别等方面的成功应用,也为遥控器字符的智能检测提供了可能。已有研究针对遥控器成品的缺陷检测,但其缺点显而易见,当发现产品不合格的时候,已经完成了切割和组装等工序,这样就造成了资源的严重浪费。本专利基于差影法的遥控器按键检测方法,以正常样品为模板,通过两次配准和差影法,实现对样品的检测,并对缺陷位置进行标记。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种基于差影法的遥控器按键检测方法,以标准样品的图像作为模板,实现对遥控器按键缺陷的检测。该方法能有效地分割按键检测出缺陷样品,准确定位缺陷位置。
本发明提供一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法,包括如下步骤:
步骤1:制作遥控器标准模板;
步骤2:对待检测样品的图像做预处理;
步骤3:对标准模板和待检测样品的图像粗配准,得到粗配准区域;
步骤4:对标准模板图像进行区域标记,进行二次细配准;
步骤5:对标准模板和待检测样品二次细配准后的标记区域分别进行二值化,并作差影计算;
步骤6:判断待检测样品是否合格,如果待检测样品有缺陷,定位缺陷位置,如果待检测样品没有缺陷,判断为合格样品,完成检测。
从上述技术方案可以看出,本发明具有以下技术效果:
1、本发明提供的基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法,能准确定位缺陷位置。
2、本发明提供的基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法,对于分批印刷的字符,对字符间距有一定的容错性。
3、本发明提供的基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法,采用差影法进行缺陷检测,辅以相关系数匹配法,检测方法简单,计算速度快。
附图说明
为进一步说明本发明的技术内容,以下结合附图及实施案例对本发明详细说明如后,其中:
图1是本发明提供的一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法标准流程图。
图2是本发明提供的进行二次配准的流程图。
图3是本发明实施案例中的实验标准模板;
图4是本发明实施案例中的实验样品,为待检测的遥控器按键图片;
图5是本发明实施案例中对比度增强后的待检测样品的图片;
图6是本发明实施案例中是粗配准的结果,配准区域用白色方框标示;
图7是本发明实施案例中对模板进行区域标记的结果;
图8是本发明实施案例中依照粗匹配位置对待检测样品进行区域标记的结果;
图9是本发明实施案例中对待检测样品进行二次配准后的区域标记结果;
图10是本发明实施案例中差影结果图;
图11是本发明实施案例中按照阈值处理后的差影结果图;
图12是本发明实施案例中缺陷检测的结果,缺陷位置用白色方框标不。
具体实施方式
如图1及图2所示,本发明提供一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法,包括如下步骤:
步骤1:制作遥控器标准模板(步骤101),所述的制作遥控器标准模板,是取多个标准遥控器图片,进行灰度值的平均化,并且对不规则的边缘进行裁剪,来制作标准模板;
步骤2:对待检测样品的图像做预处理(步骤102),所述对待检测样品的图像做预处理是采用直方图均衡化,对图像中像素个数多的灰度级进行展宽,而对像素个数少的灰度级进行缩减;如果图像经过直方图均衡化以后还达不到要求,还需进行其他预处理步骤,如针对光线不均匀可以采用顶帽变换;
步骤3:对标准模板和待检测样品的图像粗配准,得到粗配准区域,(步骤103),所述对标准模板和待检测样品的图像粗配准,得到粗配准区域,是从待检测样品中取出与标准模板大小一致的子图,求子图与标准模板的相关系数来确定粗配准的位置。相关系数的公式如下所示:
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