[发明专利]一种快速检测自动控温功能的测试方法有效

专利信息
申请号: 201310350007.1 申请日: 2013-08-12
公开(公告)号: CN103488163A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 盛松;李聪航;张维丝;刘炜葳;周砚耕 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 检测 自动 功能 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及航天器热控制领域,具体地,涉及一种快速检测自动控温功能的测试方法。

背景技术

在航天器热控制系统中,常常需要对某些仪器设备或部件采取自动温度控制。目前,用于检测自动控温功能实现的方法主要采用专门的地面设备或在整星的热平衡试验中进行检测。

1、专用的地面设备

研制专门的地面设备,用于模拟星上控温热敏电阻的温度,其本质是模拟控温热敏电阻的阻值,需要专门研制,并与卫星有复杂的接口,并需投入专门的人力、物力和时间,测试成本高。

2、整星的热平衡试验

在整星的热平衡试验中,温度控制软件通过采集到的需控温对象的温度数据进行判断控制,可直接检测自动控温功能,缺点是一旦功能异常,会直接影响热试验的效果。

发明内容

针对现有技术中的缺陷,本发明的目的是提供一种简单有效的快速检测自动控温功能的测试方法。

根据本发明的一个方面,提供一种快速检测自动控温功能的测试方法,包括以下步骤:

步骤1:在热敏电阻未接入控温回路的情况下:

通过注数上传控温阈值至数管计算机,设置加热器打开/关闭时的控温阈值,观察加热器是否打开/关闭;

步骤2:在热敏电阻接入控温回路的情况下:

通过注数上传控温阈值至数管计算机,设置加热器打开时的控温阈值略高于实际温度测量值,观察加热器是否打开,并观察当温度升高到超过控温阈值时,加热器是否关闭。

优选地,步骤1包括以下步骤:

步骤11:设置加热器打开时的控温阈值用热敏电阻2位16进制控温原码数值表示为[FA,FB],观察加热器是否打开;

步骤12:设置加热器关闭时的控温阈值用热敏电阻2位16进制控温原码数值表示为[F0,F8],观察加热器是否关闭。

在控温热敏电阻未接入的情况下,利用电路特性,修改温度控制原码,使得控温要求用热敏电阻2位16进制控温原码数值表示为[FA,FB],加热器因为设置了更低的温度值而处在关闭状态,从而完整地检测了加热器开、关功能的测试。

优选地,步骤2具体为:通过数管计算机注数的方法对控温热敏电阻的阈值进行设置,并设置控温范围比实际测得的热敏温度范围略高,将实际采集到的热敏电阻温度值与设定值进行比较,当采集到的温度值低于设定温度的低温值时,加热器打开;当采集到的温度值高于设定温度的高温值时,加热器关闭。

在热敏电阻接入闭环控温的情况下,修改控温阀值的设置,使得所设置的控温范围比实际测得的热敏温度范围略高,如果控温功能正常,加热器开始工作,温度开始上升,当温度升高到一定程度,超过了所设置的温度上限值时,加热器便处在了断开状态,此时温度就会下降,从而验证了自动温度控制功能。

本发明利用温度控制阈值可修改的特点,在整星的电测试中,通过注数修改温度阈值使得数管的自动控温功能可以快速得到检测和验证。这种方法可以在早期控温热敏电阻未连接在星上的情况下就可实现对软件自动控温功能的测试,也可在室温下热敏电阻接入闭环控制的条件完成自动控温功能的检测,操作简单,无需投入专门的人力、物力和时间,测试成本低,可靠性高。与现有技术相比,本发明具有操作简单、测试成本低、可靠性高的有益效果。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:

图1为本发明一种快速检测自动控温功能的测试方法的原理示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明,但不以任何形式限制本发明。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。

请参阅图1,一种快速检测自动控温功能的测试方法,包括以下步骤:

步骤1:在热敏电阻未接入控温回路的情况下:通过注数上传控温阈值至数管计算机,设置加热器打开/关闭时的控温阈值,观察加热器是否打开/关闭。

步骤11:设置加热器打开时的控温阈值为[FA,FB],观察加热器是否打开;

步骤12:设置加热器关闭时的控温阈值为[F0,F8],观察加热器是否关闭。

在整星的电测试过程中,温度控制软件的功能实现需要尽早得以完成测试,否则如果不能按时完成性能测试,在整星热真空试验中才暴露问题,将会影响试验的效果,从而影响到型号的研制计划。

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