[发明专利]一种内存检验测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域或一种通过高覆盖率测试和边缘测试对内存进行性能和可靠性检验对比的系统,具体地说是一种内存检验测试系统。

背景技术

服务器系统厂家对于标准内存的测试检验，多是通过系统级别的兼容性测试来判断是否可以与系统搭配使用，而兼容性测试的结果多是通过或不通过，并没有具体的数据，也没法很好的对各种内存进行全面横向比较。

此检验系统可以对内存及颗粒的cell进行全面的检验，并通过对各种关键电压和时序的调节，实现对内存的各种工作条件下的表现来查看内存和主板系统的短板。

发明内容

本发明的目的是提供一种内存检验测试系统。

本发明的目的是按以下方式实现的，该系统包含的模块有：系统主板模块（1）、内存关键电压及时序调节模块（2）、软体模块（3）、覆盖率测试模块（4）、输入/输出模块（5），其中： 

系统主板模块（1）是内存测试的基础部分，各种规格的测试内存和测试主板需要相匹配，需要保证系统平台能够正常运行。

内存关键电压及时序调节模块（2），内存检验系统的边缘测试部分主要是通过在不同的Vdd/Vref及读写时序下检验内存的工作状态。通过此模块可以对内存的关键点呀和时序进行调节。

软体模块（3）需要将调节输入的电压、时序等通过系统下的输入的软件进行设置。并将最终的测试结果转化为直观的图表。负责转化客户的设置及将测试结果的进行转化成便于客户查看的图表形式。

覆盖率测试模块（4）对于所有的内存地址，对bank、行、column 地址、DQ number进行检查，查看坏掉的cell。

输入/输出模块（5）输入模块将设置输入，输出模块将结果直观的显示出来。

本发明的有益效果是：通过系统下的操作界面对通过软件模块对测试参数对测试进行设置，内存关键电压计时序调节模块根据客户的设置进行调节，使内存在系统主板模块上，正常工作在客户指定的环境中，然后借助于测试的程序进行覆盖率测试或边缘测试，最终通过软件翻译成直观的便于客户查看的图表。 

具体实施方式

一种采用内存的高覆盖率测试和边缘测试来对标准内存进行检验的系统，该系统包含的模块有：系统主板模块（1）、内存关键电压及时序调节模块（2）、软体模块（3）、覆盖率测试模块（4）、输入/输出模块（5），其中： 

系统主板模块（1）是内存测试的基础部分，各种规格的测试内存和测试主板需要相匹配，需要保证内存在系统平台能够正常运行。

内存关键电压及时序调节模块（2），内存检验系统的边缘测试部分主要是通过在不同的Vdd/Vref及读写时序下检验内存的工作状态。

软体模块（3）需要将调节输入的电压、时序等通过系统下的输入的软件进行设置。并将最终的测试结果转化为直观的图表。通过此模块可以对内存的关键点呀和时序进行调节。

覆盖率测试模块（4）对于所有的内存地址，对bank、行、column 地址、DQ number进行检查，查看坏掉的cell。

输入/输出模块（5）输入模块将设置输入，输出模块将结果直观的显示出来。

除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。