[发明专利]一种基于初始磁导率方法的材质检测探头在审

专利信息
申请号: 201310347483.8 申请日: 2013-08-12
公开(公告)号: CN104375099A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 帅立国 申请(专利权)人: 帅立国
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01N27/72
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215211 江苏省苏州市吴江汾湖*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 初始 磁导率 方法 材质 检测 探头
【权利要求书】:

1.一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于该材质检测探头包括“铁磁性材料1”、“导磁体2”、“励磁线圈3”、“导磁回路4”及“磁传感器5”。其中,“磁传感器5”通过贴装工艺与“导磁体2”构成一个刚性的整体,其端面与“铁磁性材料1”以垂直接触方式相连,“励磁线圈3”以缠绕方式固定在“导磁体2”上,“导磁回路4”位于“铁磁性材料1”、“导磁体2”及“磁传感器5”构成的环形回路中。 

2.根据权利要求1所述的一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于所述的材质检测探头的U型“导磁体2”的两端为非等长结构,在略短的一端贴装磁传感器后两端正好等长,且端面保持在同一平面。 

3.根据权利要求1所述的一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于所述的材质检测探头的U型“导磁体2”上缠绕有“励磁线圈3”,以便在“励磁线圈3”中通入直流励磁电流后能够为导磁回路提供磁通势。 

4.根据权利要求1所述的一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于所述的材质检测探头置于光滑平整的待测铁磁性材料表面,确保材质检测探头置于铁磁性材料表面,且完全贴合。 

5.根据权利要求1所述的一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于所述的材质检测探头的“励磁线圈3”移除时,“导磁体2”为具有恒定磁场的永磁体。 

6.根据权利要求1所述的一种基于初始磁导率方法的材质检测探头,其特征在于所述的材质检测探头的“励磁线圈3”的励磁电流为0时,“导磁体2”为具有恒定磁场的永磁体。 

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