[发明专利]N型JFET器件的等效电路及仿真方法在审
申请号: | 201310346902.6 | 申请日: | 2013-08-09 |
公开(公告)号: | CN104346489A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 王正楠 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | jfet 器件 等效电路 仿真 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体器件的设计仿真,特别是指一种N型JFET器件的等效电路,本发明还涉及所述N型JFET器件的仿真方法。
背景技术
JFET(Junction Field Effect Transistor:结型场效应管)是场效应器件中一种常见的器件类型,其剖面结构如图1所示,是在P型衬底上注入形成N阱,在N阱中再注入形成P阱形成的器件,P阱与P型衬底分别是JFET的栅极及背栅,P阱外围相对两端的N阱引出形成JFET的源漏端。N阱和P型衬底以及N阱和P阱形成PN结。其中最常见的是通过工艺注入得到的NP扩散结,通过外加电压的导致PN结耗尽形成电流夹断,由于这类器件具有独特的开关特性,它经常被应用于模拟电路的开关电路、电源电路中。
目前在进行这类器件设计仿真时,各类仿真软件也会提供业界的JFET器件的SPICE模型,但是与常规的MOS器件业界SPICE模型不同,目前的JFET的模型太过于理想化,导致它的应用受到一些限制,例如仿真器中提供的模型只能描述单一一种尺寸的JFET电流,如果版图中JFET的尺寸发生变化,模型就无法应对,无法适应设计出不同尺寸不同电性参数的JFET器件的需要,缺乏灵活性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种N型JFET器件的等效电路,本发明还要解决的技术问题在于提供所述N型JFET器件的仿真方法。
为解决上述问题,本发明所述的N型JFET器件的等效电路,包含:第一、第二电阻,第一、第二、第三、第四电容以及第一、第二电压控制电流源,其连接关系为:
第一电阻的第一端、第一电容的第一端、第二电容的第一端以及两个电压控制电流源的正端连接在一起;
第二电阻的第一端、第三电容的第一端、第四电容的第一端以及两个电压控制电流源的负端连接在一起;
第一电容的第二端与第三电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的栅极;
第二电容的第二端与第四电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的背栅;
第一电阻的第二端作为所述N型JFET器件的源极,第二电阻的第二端作为所述N型JFET器件的漏极。
进一步地,所述第一电阻用于模拟N型JFET器件的源端寄生电阻,所述第二电阻用于模拟N型JFET器件的漏端寄生电阻,第一、第二、第三、第四电容用于模拟寄生电容;第一电压控制电流源用于模拟N阱和P阱之间随外加电压的变化而变化的N阱横向电流,第二电压控制电流源用于模拟N阱和P衬底之间随外加电压的变化而变化的N阱横向电流。
进一步地,所述第一和第四电容是组合用于模拟N阱与P阱之间的寄生电容,且第一和第四电容各为N阱与P阱之间寄生电容的0.5倍;所述第二和第三电容是组合用于模拟N阱与P型衬底之间的寄生电容,且第二和第三电容各为N阱与P衬底之间寄生电容的0.5倍。
为解决上述问题,本发明提供的一种N型JFET器件的仿真方法,包含如下两个步骤:
步骤一,构建N型JFET器件的等效电路;
步骤二,利用构建的等效电路进行仿真。
进一步地,所述步骤一中,N型JFET器件的等效电路包含:
第一、第二电阻,第一、第二、第三、第四电容以及第一、第二电压控制电流源,其连接关系为:
第一电阻的第一端、第一电容的第一端、第二电容的第一端以及两个电压控制电流源的正端连接在一起;
第二电阻的第一端、第三电容的第一端、第四电容的第一端以及两个电压控制电流源的负端连接在一起;
第一电容的第二端与第三电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的栅极;
第二电容的第二端与第四电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的背栅;
第一电阻的第二端作为所述N型JFET器件的源极,第二电阻的第二端作为所述N型JFET器件的漏极。
进一步地,所述第一和第四电容是组合用于模拟N阱与P阱之间的寄生电容,且第一和第四电容各为N阱与P阱之间寄生电容的0.5倍;所述第二和第三电容是组合用于模拟N阱与P型衬底之间的寄生电容,且第二和第三电容各为N阱与P衬底之间寄生电容的0.5倍。
进一步地,仿真时,所述N型JFET器件总沟道电流Ir采用如下公式描述:
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