[发明专利]N型JFET器件的等效电路及仿真方法在审

专利信息
申请号: 201310346902.6 申请日: 2013-08-09
公开(公告)号: CN104346489A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 王正楠 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: jfet 器件 等效电路 仿真 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体器件的设计仿真,特别是指一种N型JFET器件的等效电路,本发明还涉及所述N型JFET器件的仿真方法。

背景技术

JFET(Junction Field Effect Transistor:结型场效应管)是场效应器件中一种常见的器件类型,其剖面结构如图1所示,是在P型衬底上注入形成N阱,在N阱中再注入形成P阱形成的器件,P阱与P型衬底分别是JFET的栅极及背栅,P阱外围相对两端的N阱引出形成JFET的源漏端。N阱和P型衬底以及N阱和P阱形成PN结。其中最常见的是通过工艺注入得到的NP扩散结,通过外加电压的导致PN结耗尽形成电流夹断,由于这类器件具有独特的开关特性,它经常被应用于模拟电路的开关电路、电源电路中。

目前在进行这类器件设计仿真时,各类仿真软件也会提供业界的JFET器件的SPICE模型,但是与常规的MOS器件业界SPICE模型不同,目前的JFET的模型太过于理想化,导致它的应用受到一些限制,例如仿真器中提供的模型只能描述单一一种尺寸的JFET电流,如果版图中JFET的尺寸发生变化,模型就无法应对,无法适应设计出不同尺寸不同电性参数的JFET器件的需要,缺乏灵活性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种N型JFET器件的等效电路,本发明还要解决的技术问题在于提供所述N型JFET器件的仿真方法。

为解决上述问题,本发明所述的N型JFET器件的等效电路,包含:第一、第二电阻,第一、第二、第三、第四电容以及第一、第二电压控制电流源,其连接关系为:

第一电阻的第一端、第一电容的第一端、第二电容的第一端以及两个电压控制电流源的正端连接在一起;

第二电阻的第一端、第三电容的第一端、第四电容的第一端以及两个电压控制电流源的负端连接在一起;

第一电容的第二端与第三电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的栅极;

第二电容的第二端与第四电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的背栅;

第一电阻的第二端作为所述N型JFET器件的源极,第二电阻的第二端作为所述N型JFET器件的漏极。

进一步地,所述第一电阻用于模拟N型JFET器件的源端寄生电阻,所述第二电阻用于模拟N型JFET器件的漏端寄生电阻,第一、第二、第三、第四电容用于模拟寄生电容;第一电压控制电流源用于模拟N阱和P阱之间随外加电压的变化而变化的N阱横向电流,第二电压控制电流源用于模拟N阱和P衬底之间随外加电压的变化而变化的N阱横向电流。

进一步地,所述第一和第四电容是组合用于模拟N阱与P阱之间的寄生电容,且第一和第四电容各为N阱与P阱之间寄生电容的0.5倍;所述第二和第三电容是组合用于模拟N阱与P型衬底之间的寄生电容,且第二和第三电容各为N阱与P衬底之间寄生电容的0.5倍。

为解决上述问题,本发明提供的一种N型JFET器件的仿真方法,包含如下两个步骤:

步骤一,构建N型JFET器件的等效电路;

步骤二,利用构建的等效电路进行仿真。

进一步地,所述步骤一中,N型JFET器件的等效电路包含:

第一、第二电阻,第一、第二、第三、第四电容以及第一、第二电压控制电流源,其连接关系为:

第一电阻的第一端、第一电容的第一端、第二电容的第一端以及两个电压控制电流源的正端连接在一起;

第二电阻的第一端、第三电容的第一端、第四电容的第一端以及两个电压控制电流源的负端连接在一起;

第一电容的第二端与第三电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的栅极;

第二电容的第二端与第四电容的第二端连接在一起,作为所述N型JFET器件的背栅;

第一电阻的第二端作为所述N型JFET器件的源极,第二电阻的第二端作为所述N型JFET器件的漏极。

进一步地,所述第一和第四电容是组合用于模拟N阱与P阱之间的寄生电容,且第一和第四电容各为N阱与P阱之间寄生电容的0.5倍;所述第二和第三电容是组合用于模拟N阱与P型衬底之间的寄生电容,且第二和第三电容各为N阱与P衬底之间寄生电容的0.5倍。

进一步地,仿真时,所述N型JFET器件总沟道电流Ir采用如下公式描述:

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