[发明专利]一种统计电解电容赋能过程自愈的方法

权利要求书

1.一种统计电解电容赋能过程自愈的方法，包括如下步骤：设定采样时间Δt、采样个数n、恒流过程的时间下限T₁、恒流过程的时间上限T₂ 、恒压过程的时间下限T₃、恒压过程的时间上限T₄，其中T₂＞T₁＞Δt，T₄＞T₃＞Δt；

设置最大电压U_max的初始值、最小电流I_min的初始值和时间参数T_i的初始值，其中U_max的初始值小于U₀，I_min的初始值大于I₀，T_i的初始值≤T₁-Δt；其中U₀为恒流过程开始经过T₁-Δt时间达到的电压值，I₀为恒压过程开始经过T₃-Δt时间达到的电流值；

赋能过程开始，通过恒流过程和恒压过程判断电解电容是否为自愈状态；对上述步骤中所有判断为自愈状态的T_i进行统计；

所述通过恒流过程判断是否为自愈状态包括如下步骤：

（1）每采样时间Δt内采集n个电压值，并计算其算术平均值                                               ；

（2）将平均值与最大电压U_max比较大小，当＞U_max时，用的值替代U_max的值，即令U_max=，如此往复；每一次U_max被更新，时间T_i清零并重新计时；

（3）将最大电压U_max被更新时的时间参数T_i与时间下限T₁和时间上限T₂比较大小，若T₁＜T_i＜T₂，判断电解电容为自愈状态；

所述通过恒压过程判断是否为自愈状态包括如下步骤：

（1）每采样时间Δt内采集n个电流值，并计算其算术平均值； 

（2）将平均值与最小电流I_min比较大小，若＜I_min时，用的值替代I_min的值，即令I_min=，如此往复；每一次I_min被更新，时间T_i清零并重新计时；

（3）将最小电流I_min被更新时的时间参数T_i与时间下限T₃和时间上限T₄比较大小，若T₃＜T_i＜T₄，判断电解电容为自愈状态。

2.根据权利要求1所述的统计电解电容赋能过程自愈的方法，其特征在于所述采集的方式为，采样时间Δt内每隔相等的时间间隔采集n个电压值或电流值。

3.根据权利要求1所述的统计电解电容赋能过程自愈的方法，其特征在于设置最大电压U_max的初始值为0、最小电流I_min的初始值为恒流过程的电流值、时间参数T_i的初始值为0。

4.根据权利要求1所述的统计电解电容赋能过程自愈的方法，其特征在于所述统计的方式为，在（T_min，T_max）区域内设置一个以上时间区间，分别统计判断为自愈状态的T_i出现在不同时间区间内的频次及频率；所述T_min≤T₁且T_min≤T₃，T_max≥T₂且T_max≥T₄。