[发明专利]非接触式透镜中心厚度测量方法

权利要求书

1.一种非接触式透镜中心厚度测量方法，其特征是它包括以下步骤：

首先，将待测透镜安装在五维调整架上，再将五维调整架安装在导轨上，同时在导轨一侧安装双频激光测长装置；

第二，调整五维调整架在导轨上的位置，使激光干涉仪标准镜头聚焦于被测透镜第一表面顶点猫眼像位置处，双频激光测长装置同时记录下此时导轨的第一位置值；

第三，移动五维调整架，使激光干涉仪标准镜头透过第一表面，聚焦于透镜第二表面猫眼像位置处，双频激光测长装置同时记录下此时导轨的第二位置值；

第四，通过计算导轨从第一位置移动到第二位置的值，即可得到透镜中心光程测量值L；

最后，将所测得的值代入以下公式即可计算出透镜的中心厚度值d：

d=R+1n′(L-R)SinUSinU′]]>

其中U′=U+arcsin[(L+R)SinUR]-arcsin[(L-R)SinUn′R]]]>

式中n’：透镜折射率

R：第一表面曲率半径，凸面取“+”，凹取“-”，

L：光程测量值，取“+”，

U：物方孔径角，

U’：像方孔径角。