[发明专利]一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法有效
申请号: | 201310341441.3 | 申请日: | 2013-08-07 |
公开(公告)号: | CN103398972A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 梁英;刘云鹏;石倩;花广如;李聪 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学(保定) |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人: | 李羡民 |
地址: | 071003 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅橡胶 复合 绝缘子 老化 程度 检测 方法 | ||
1.一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:它采用以下步骤进行检测:
a.采集试样:在硅橡胶复合绝缘子的伞裙上取下圆形坯件,再将坯件切成一定厚度的试样;
b.清洗试样:先用无水乙醇清洗试样表面污垢,再用去离子水冲洗试样,使试样表面清洁;
c.检测试样:利用傅里叶变换红外光谱仪对试样进行老化测试,通过红外光源发出的红外辐射经干涉仪后,调制得一束干涉光;所述干涉光通过试样后成为带有试样信息的干涉光而被傅里叶变换红外光谱仪检测到,傅里叶变换红外光谱仪将干涉光信号变为电信号,送入计算机,得到带有试样信息的时域干涉图;经过傅立叶变换将干涉图转换成以透光率或吸光度为纵坐标,以波数为横坐标的红外光谱图;
d.对比试样:对测试试样取得的红外光谱进行解谱,对Si-O-Si键与Si-CH3键的吸收峰面积进行计算,比较产品试样与现场试样的峰面积,用光谱特征峰的峰面积变化量反映试样的老化程度。
2.根据权利要求1所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:所述试样直径为20mm、厚度为1mm。
3.根据权利要求1或2所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:所述步骤a.中的试样利用采样器(11)制备,所述采样器(11)为圆筒形,其端面为切割刃口,圆筒的上部设有一个施力手柄。
4.根据权利要求3所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:利用切片机构切割成所需厚度,所述切片机构包括裁剪部分、压紧部分和底板(1);所述裁剪部分固定在底板(1)上,其上端设有压紧部分;所述裁剪部分包括试样坯件固定架(2)和滑动刀片架(3),所述滑动刀片架(3)为分体结构,它由左刀片固定架(13)、右刀片固定架(14)和刀片(5)组成,所述左刀片固定架(13)或右刀片固定架(14)上设有刀片(5);所述试样坯件固定架(2)设在滑动刀片架(3)内,所述试样坯件固定架(2)的外壁与滑动刀片架(3)的内壁滑动配合。
5.根据权利要求4所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:所述试样坯件固定架(2)上设有试样坯件安置口(4)和刀片滑动槽(12),所述试样坯件安置口(4)为圆形通孔,所述刀片滑动槽(12)沿试样坯件固定架(2)滑动方向设置,所述刀片滑动槽(12)与刀片(5)之间滑动配合。
6.根据权利要求5所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:增设一个刀片,所述两个刀片分别设在左刀片固定架(13)和右刀片固定架(14)上。
7.根据权利要求6所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:所述压紧部分由压块(9)和手柄(10)组成,所述压块(9)的直径与试样坯件安置口(4)相匹配,所述压块(9)的上部设有手柄(10)。
8.根据权利要求7所述硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法,其特征在于:增设调节垫片(7),所述调节垫片(7)设在底板(1)与试样坯件固定架(2)之间,并套于螺栓(6)上。
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